Прогнозирование вероятности отказа flash-памяти при низкоинтенсивном облучениистатья из журнала
Похожие публикации
Прогнозирование надежности радиоэлектронных систем космических аппаратов при воздействии…
- Артюхова Майя Александровна
- 2014 год
Модель ионизирующего излучения и температуры на характеристики МОП-транзистора
- Орешков Павел Николаевич и др.
- 2015 год
Эффективность и перспективы применения ионизирующего излучения для фитосанитарной обработки зерна…
- Санжарова Наталья Ивановна и др.
- 2022 год
Эффективность и перспективы применения ионизирующего излучения для фитосанитарной обработки зерна…
- Санжарова Наталья Ивановна и др.
- 2022 год
Влияние ионизирующего излучения на биологическую ценность белков говядины
- Тимакова Роза Темерьяновна
- 2020 год
Оценка интенсивности сбоев в электронных системах космического базирования
- Земцов Кирилл Сергеевич и др.
- 2016 год
Прогнозирование интенсивности отказов КМДП СБИС по результатам контрольных испытаний
- Петрухин Борис Петрович
- 2017 год
Влияние флуктуаций ионизационных потерь на вероятность сбоя в элементах памяти
- Зебрев Геннадий Иванович и др.
- 2015 год
Исследование поверхностного дефектообразования в МОП-транзисторе с p-каналом при длительном…
- Петухов Кирилл Алексеевич и др.
- 2018 год
Контроль качества функционирования БИС при воздействии радиации
- Барбашов Вячеслав Михайлович и др.
- 2015 год
Фотометрический контроль интегрального рассеяния при оценке качества интерференционных зеркал
- Азарова Валентина Васильевна и др.
- 2017 год
К методике проведения испытаний манометрических приборов при отрицательных температурах
- Мулев Михаил Юрьевич и др.
- 2016 год
