Библиографическое описание:Барбашов, Вячеслав Михайлович. Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне / Барбашов Вячеслав Михайлович, Подлепецкий Борис Иванович, Трушкин Николай Сергеевич. - (Представляет кафедра микро- и наноэлектроники НИЯУ МИФИ). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2016. - № 4. - С. 54-57 : ил. - Библиогр.: с. 57 (9 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Рассмотрены методы функционально-логического моделирования цифровых интегральных микросхем (ЦИМС) при воздействии радиации. Показано, что как по функциональным, так и электрическим параметрам в ряде случаев характерны детерминированные и недетерминированные нарушения работоспособности ЦИМС.
