1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Датчики и системы»
  5. Выпуск 2016 г. № 4
Моделированиерадиационнойнадежности цифровыхустройств нафункционально-логическом уровне Барбашов Вячеслав МихайловичПодлепецкий Борис ИвановичТрушкин Николай Сергеевич2016 год

Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Барбашов, Вячеслав Михайлович. Моделирование радиационной надежности цифровых устройств на функционально-логическом уровне / Барбашов Вячеслав Михайлович, Подлепецкий Борис Иванович, Трушкин Николай Сергеевич. - (Представляет кафедра микро- и наноэлектроники НИЯУ МИФИ). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2016. - № 4. - С. 54-57 : ил. - Библиогр.: с. 57 (9 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация: Рассмотрены методы функционально-логического моделирования цифровых интегральных микросхем (ЦИМС) при воздействии радиации. Показано, что как по функциональным, так и электрическим параметрам в ряде случаев характерны детерминированные и недетерминированные нарушения работоспособности ЦИМС.
Год издания: 2016
Авторы: Барбашов Вячеслав Михайлович , Подлепецкий Борис Иванович , Трушкин Николай Сергеевич
Источник: Датчики и системы
Выпуск: № 4
Номера страниц: 54-57
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие документы

Моделированиерадиационных отказовв цифровых системах Барбашов Вячеслав Михайлович2014 год

Моделирование радиационных отказов в цифровых системах

  • Барбашов Вячеслав Михайлович
  • 2014 год
Методикамоделирования иверификациипереключательныхфункций в задачахпроектированияцифровых узлов Пирогова Ю. А.Гвозденко С. А.Шардаков Д. В.2021 год

Методика моделирования и верификации переключательных функций в задачах проектирования цифровых узлов

  • Пирогова Ю. А. и др.
  • 2021 год
Прогнозированиеинтенсивности отказовКМДП СБИС порезультатамконтрольных испытаний Петрухин Борис Петрович2017 год

Прогнозирование интенсивности отказов КМДП СБИС по результатам контрольных испытаний

  • Петрухин Борис Петрович
  • 2017 год
КМДП цифровые(логические) СБИС,подходы к оценкедолговечности Петрухин Борис Петрович2018 год

КМДП цифровые (логические) СБИС, подходы к оценке долговечности

  • Петрухин Борис Петрович
  • 2018 год
Моделированиерадиационнойчувствительностибиполярных ИМС сучетом изменчивостиусловий космическогоокружения Елушов Илья ВладимировичЗебрев Геннадий ИвановичЛебедев Анатолий Алексеевич2016 год

Моделирование радиационной чувствительности биполярных ИМС с учетом изменчивости условий космического окружения

  • Елушов Илья Владимирович и др.
  • 2016 год
Учись играя.Программа длямоделированияцифровых устройствLogisim Желтов К.2024 год

Учись играя. Программа для моделирования цифровых устройств Logisim

  • Желтов К.
  • 2024 год
Учись играя.Программа длямоделированияцифровых устройствLogisim Желтов К.2024 год

Учись играя. Программа для моделирования цифровых устройств Logisim

  • Желтов К.
  • 2024 год
Методика сквозногопроектированияарифметическихустройств на ПЛИС Балашов Ю. С.Пирогов А. А.2019 год

Методика сквозного проектирования арифметических устройств на ПЛИС

  • Балашов Ю. С. и др.
  • 2019 год
Топологическиевероятностные моделиБИС для обеспеченияинформационнойнадежностиэлектронных системпри воздействии… Барбашов Вячеслав МихайловичТрушкин Николай Сергеевич2018 год

Топологические вероятностные модели БИС для обеспечения информационной надежности электронных систем при воздействии радиации

  • Барбашов Вячеслав Михайлович и др.
  • 2018 год
Методыквалиметрическойоценки надежностисложных РЭС приускоренных испытаниях Щербинко А. В.Щербинко Т. А.Беглецов А. А.2014 год

Методы квалиметрической оценки надежности сложных РЭС при ускоренных испытаниях

  • Щербинко А. В. и др.
  • 2014 год
Схемотехническиеметоды повышениярадиационнойстойкости отражателейтока операционныхусилителей Родин Александр СергеевичБакеренков Александр СергеевичФелицын ВладиславАлександрович2016 год

Схемотехнические методы повышения радиационной стойкости отражателей тока операционных усилителей

  • Родин Александр Сергеевич и др.
  • 2016 год
Определениенадежностирадиоэлектроннойаппаратуры на основемоделированияпрочности Сухов В. В.Екшембиев С. Х.2019 год

Определение надежности радиоэлектронной аппаратуры на основе моделирования прочности

  • Сухов В. В. и др.
  • 2019 год