Библиографическое описание:Барбашов, Вячеслав Михайлович. Контроль качества функционирования БИС при воздействии радиации / В. М. Барбашов, Н. С. Трушкин. - (Кафедре микро- и наноэлектроники НИЯУ МИФИ - 50 лет). - Текст : непосредственный // Датчики и системы. - 2015. - № 1. - С. 72-76 : ил. - Библиогр.: с. 75-76 (6 назв.). - Заглавие, аннотация, ключевые слова на русском и английском языках. - ISSN 1992-7185.
Аннотация:Рассмотрены методы функционально-логического моделирования БИС при воздействии радиации. Показано, что и по функциональным, и по электрическим параметрам в ряде случаев возможны детерминированные и недетерминированные нарушения работоспособности БИС. Предложены методы моделирования отказов БИС при воздействии радиации, основанные на модели нечеткого цифрового автомата Брауэра и вероятностного надежностного автомата.
