Библиографическое описание:Кудрявцева, О. А. Теоретические основы метода туннельной рефрактометрии для исследования распределения свечения в тонком слое / О. А. Кудрявцева, В. А. Охонин. - Текст : непосредственный // Вестник Красноярского государственного университета. - 2004. - Физико-математические науки, № 3. - С. 85-90. - Библиогр. в конце ст.