Библиографическое описание:Стандартные образцы пространственных характеристик наноструктур на основе аморфных многослойных покрытий / А. С. Батурин [и др.]. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2013. - № 6. - С. 20-25. - ISSN 0368-1025.
Аннотация:Представлены результаты разработки стандартных образцов СПАМ-20 и СПАМ-100 пространственных характеристик наноструктур на основе периодических многослойных покрытий, предназначенных для контроля точности измерений и аттестации методик выполнения измерений, основанных на методе рентгеновской рефлектометрии. Рассмотрены метрологические характеристики указанных стандартных образцов.