1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Измерительная техника»
  5. Выпуск 2013 г. № 5
Способ оценкистабильностимасштабногокоэффициентапросвечивающегоэлектронногомикроскопа Заблоцкий А. В.Авилов А. С.Бодунов Д. С.2013 год

Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (С 73)
Библиографическое описание: Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа / А. В. Заблоцкий [и др.]. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2013. - № 5. - С. 14-16. - ISSN 0368-1025.
Аннотация: Предложен способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа JEM-2100 при помощи тест-объекта, выполненного в виде тонкого среза кристаллической рельефной наноструктуры с известной формой профиля. Представлены результаты экспериментальной оценки за двухнедельный период.
Год издания: 2013
Авторы: Заблоцкий А. В. , Авилов А. С. , Бодунов Д. С. , Кузин А. А. , Кузин А. Ю. , Кузьмин А. А. , Тодуа П. А.
Источник: Измерительная техника
Выпуск: № 5
Номера страниц: 14-16
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Стандартный образецдля калибровкипросвечивающихэлектронныхмикроскопов Бодунов Д. С.Гавриленко В. П.Заблоцкий А. В.2012 год

Стандартный образец для калибровки просвечивающих электронных микроскопов

  • Бодунов Д. С. и др.
  • 2012 год
Искажение профилярельефных элементовна поверхностимонокристаллическогокремния в результатеих контаминации в… Гавриленко В. П.Кузин А. Ю.Митюхляев В. Б.2013 год

Искажение профиля рельефных элементов на поверхности монокристаллического кремния в результате их…

  • Гавриленко В. П. и др.
  • 2013 год

Методы современной просвечивающей электронной микроскопии в исследовании материалов

  • Жарков С. М.
  • 2009 год
Оценканеопределенностиизмерениймежплоскостныхрасстояний вмонокристаллическомкремнии сиспользованием … Гавриленко В. П.Ермакова М. А.Заблоцкий А. В.2013 год

Оценка неопределенности измерений межплоскостных расстояний в монокристаллическом кремнии с…

  • Гавриленко В. П. и др.
  • 2013 год
Определениеэффективного радиусаострия зондаатомно-силовогомикроскопа сиспользованиеммонодисперсныхнаночастиц… Ефимов А. А.Иванов В. В.Волков И. А.2013 год

Определение эффективного радиуса острия зонда атомно-силового микроскопа с использованием…

  • Ефимов А. А. и др.
  • 2013 год
Сверхбыстраяэлектронная дифракцияи электроннаямикроскопия:современное состояниеи перспективы Ищенко А. А.Асеев С. А.Баграташвили В. Н.2014 год

Сверхбыстрая электронная дифракция и электронная микроскопия: современное состояние и перспективы

  • Ищенко А. А. и др.
  • 2014 год
Проектирование ичисленноемоделированиеминиатюрногоэлектронногопрожектора Тарабрин Д. Ю.Бимурзаев С. Б.Трубицын А. А.2016 год

Проектирование и численное моделирование миниатюрного электронного прожектора

  • Тарабрин Д. Ю. и др.
  • 2016 год
Измерение линейныхразмеров элементовнанорельефа страпецеидальнымпрофилем сеченияметодомдефокусировки… Гавриленко В. П.Кузин А. Ю.Ларионов Ю. В.2012 год

Измерение линейных размеров элементов нанорельефа с трапецеидальным профилем сечения методом…

  • Гавриленко В. П. и др.
  • 2012 год

Показать ещё

Экспресс-методикаизмерения параметровтехнологическихэлектронных пучков Щербаков А. В.Гончаров А. Л.Кожеченко А. С.2016 год

Экспресс-методика измерения параметров технологических электронных пучков

  • Щербаков А. В. и др.
  • 2016 год
Длиннофокусныйосесимметричныйгиперболоидныйэнергоанализаторзаряженных частиц Гуров В. С.Трубицын А. А.Грачев Е. Ю.2016 год

Длиннофокусный осесимметричный гиперболоидный энергоанализатор заряженных частиц

  • Гуров В. С. и др.
  • 2016 год
Нанокомпозитныеэлектродные материалына основеполи-3,4-этилендиокситиофена с включениямизолота и палладия Елисеева С. Н.Толстопятова Е. Г.Бабкова Т. А.2014 год

Нанокомпозитные электродные материалы на основе поли-3,4-этилендиокситиофена с включениями золота…

  • Елисеева С. Н. и др.
  • 2014 год
Избыточные шумы вGaAs детекторахионизирующихизлучений,геттерированныхиттербием Ильичев Э. А.Кострюков С. А.Жигальский Г. П.2014 год

Избыточные шумы в GaAs детекторах ионизирующих излучений, геттерированных иттербием

  • Ильичев Э. А. и др.
  • 2014 год
Эллипсометрическийспособ оценкинеоднородноститолщинытонкопленочныхпокрытий Батурин А. С.Бормашов В. С.Гавриленко В. П.2013 год

Эллипсометрический способ оценки неоднородности толщины тонкопленочных покрытий

  • Батурин А. С. и др.
  • 2013 год
Государственныйпервичный эталонединиц коэффициента иугла масштабногопреобразованиясинусоидального токаГЭТ 152-2011 Сычев Ю. И.Захаров Б. В.Дидик Ю. И.2014 год

Государственный первичный эталон единиц коэффициента и угла масштабного преобразования…

  • Сычев Ю. И. и др.
  • 2014 год
Исследование движениярасплавленной гранулыпо поверхностиформируемого изделияв процессеэлектронно-лучевого… Кондратьев С. Ю.Соколов Ю. А.Копаев В. Н.2014 год

Исследование движения расплавленной гранулы по поверхности формируемого изделия в процессе…

  • Кондратьев С. Ю. и др.
  • 2014 год
Распределениепространственногозаряда взамагниченнойгазоразрядной плазме,ограниченной плоскимидиэлектрическими… Банковский А. С.Захаров А. А.Потапов А. А.2018 год

Распределение пространственного заряда в замагниченной газоразрядной плазме, ограниченной…

  • Банковский А. С. и др.
  • 2018 год