1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Измерительная техника»
  5. Выпуск 2013 г. № 5
Способ оценкистабильностимасштабногокоэффициентапросвечивающегоэлектронногомикроскопа Заблоцкий А. В.Авилов А. С.Бодунов Д. С.2013 год

Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (С 73)
Библиографическое описание: Способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа / А. В. Заблоцкий [и др.]. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2013. - № 5. - С. 14-16. - ISSN 0368-1025.
Аннотация: Предложен способ оценки стабильности масштабного коэффициента просвечивающего электронного микроскопа JEM-2100 при помощи тест-объекта, выполненного в виде тонкого среза кристаллической рельефной наноструктуры с известной формой профиля. Представлены результаты экспериментальной оценки за двухнедельный период.
Год издания: 2013
Авторы: Заблоцкий А. В. , Авилов А. С. , Бодунов Д. С. , Кузин А. А. , Кузин А. Ю. , Кузьмин А. А. , Тодуа П. А.
Источник: Измерительная техника
Выпуск: № 5
Номера страниц: 14-16
Количество экземпляров:
  • Книгохранилище научной литературы (пр. Свободный, 79, 4 этаж): свободно 1 из 1 экземпляров