1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Измерительная техника»
  5. Выпуск 2013 г. № 12
Система спектральногоконтроля нанесениямногослойныхдиэлектрическихпокрытий Лабусов В. А.Семенов З. В.Зарубин И. А.2013 год

Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (С 40)
Библиографическое описание: Система спектрального контроля нанесения многослойных диэлектрических покрытий / В. А. Лабусов [и др.]. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2013. - № 12. - С. 11-14. - ISSN 0368-1025.
Аннотация: Создана система прецизионного спектрального контроля толщин слоев многослойных диэлектрических покрытий в широком спектральном диапазоне. Приведен пример использования системы для изготовления просветляющего покрытия с максимальным коэффициентом отражения 0, 15 % в спектральном диапазоне 400–660 нм на вакуумной установке ВУ-2М.
Год издания: 2013
Авторы: Лабусов В. А. , Семенов З. В. , Зарубин И. А. , Саушкин М. С. , Эрг Г. В. , Ковалев С. И.
Источник: Измерительная техника
Выпуск: № 12
Номера страниц: 11-14
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Применениемногослойныхдиэлектрическихпокрытий дляподавления излучениянерабочих порядковспектра вспектрометрах… Семенов З. В.Лабусов В. А.Зарубин И. А.2017 год

Применение многослойных диэлектрических покрытий для подавления излучения нерабочих порядков…

  • Семенов З. В. и др.
  • 2017 год
Исследованиеспектрального методаконтроля толщиныполупроводниковых идиэлектрическихпленок Кострин Д. К.2015 год

Исследование спектрального метода контроля толщины полупроводниковых и диэлектрических пленок

  • Кострин Д. К.
  • 2015 год
Методы измеренийспектральныххарактеристик ираспознаванияэлементов зерновыхсмесей в системахсепарации реального… Алгазинов Э. К.Дрюченко М. А.Минаков Д. А.2014 год

Методы измерений спектральных характеристик и распознавания элементов зерновых смесей в системах…

  • Алгазинов Э. К. и др.
  • 2014 год
Диэлектрические иметалл-диэлектрические многослойныепокрытия для лазернойоптики Голдина Нина Дмитриевна2011 год

Диэлектрические и металл-диэлектрические многослойные покрытия для лазерной оптики

  • Голдина Нина Дмитриевна
  • 2011 год
Эллипсометрическийспособ оценкинеоднородноститолщинытонкопленочныхпокрытий Батурин А. С.Бормашов В. С.Гавриленко В. П.2013 год

Эллипсометрический способ оценки неоднородности толщины тонкопленочных покрытий

  • Батурин А. С. и др.
  • 2013 год
Повышение точностивоспроизведенияединицы среднеймощности оптическогоизлучения вволоконно-оптическихсистемах… Глазов А. И.Зотов А. В.Козаченко М. Л.2014 год

Повышение точности воспроизведения единицы средней мощности оптического излучения в волоконно…

  • Глазов А. И. и др.
  • 2014 год
Некогерентный приеммодулированного поинтенсивностиоптического сигнала Гусев А. В.Юдин И. С.2013 год

Некогерентный прием модулированного по интенсивности оптического сигнала

  • Гусев А. В. и др.
  • 2013 год
Нанесение покрытийдля повышенияизносостойкостиповерхностей трениясферическихподшипниковскольжения Горленко А. О.Давыдов С. В.2017 год

Нанесение покрытий для повышения износостойкости поверхностей трения сферических подшипников…

  • Горленко А. О. и др.
  • 2017 год

Показать ещё

Обеспечение единстваизмерений воптометрии Левина Э. Ю.Вишняков Г. Н.Ермаков М. М.2014 год

Обеспечение единства измерений в оптометрии

  • Левина Э. Ю. и др.
  • 2014 год
Эталон единиц среднеймощности и ослабленияоптического излучениядляволоконно-оптическихсистем связи ипередачи… Глазов А. И.Зотов А. В.Козаченко М. Л.2014 год

Эталон единиц средней мощности и ослабления оптического излучения для волоконно-оптических систем…

  • Глазов А. И. и др.
  • 2014 год
Метрологическийанализ системыуправления нанесениемпокрытий навнутреннююповерхность труб Скворцов Б. В.Зарецкая М. И.Борминский С. А.2014 год

Метрологический анализ системы управления нанесением покрытий на внутреннюю поверхность труб

  • Скворцов Б. В. и др.
  • 2014 год
Результаты сличенийэталонов единицысредней мощностилазерного излученияна длинах волн 0,532,1,064 и 10,6 мкм… Либерман А. А.Москалюк С. А.Улановский М. В.2013 год

Результаты сличений эталонов единицы средней мощности лазерного излучения на длинах волн 0,532, 1…

  • Либерман А. А. и др.
  • 2013 год
Погрешностивысокоточныхизмерений среднеймощности оптическогоизлучения вволоконно-оптическихсистемах передачи… Глазов А. И.Козаченко М. Л.Светличный А. Б.2014 год

Погрешности высокоточных измерений средней мощности оптического излучения в волоконно-оптических…

  • Глазов А. И. и др.
  • 2014 год
Соотношениенеопределенностей исоотношениепогрешностей воптических измерениях Смирнов В. И.2014 год

Соотношение неопределенностей и соотношение погрешностей в оптических измерениях

  • Смирнов В. И.
  • 2014 год
Калориметрическиепреобразователи длядискретных измеренийсредней мощностиизлученияволоконно-оптическихлазеров Козаченко М. Л.Тихомиров С. В.Хатырев Н. П.2014 год

Калориметрические преобразователи для дискретных измерений средней мощности излучения волоконно…

  • Козаченко М. Л. и др.
  • 2014 год
Ахроматический3d-интерферометр дляконтроля и анализакачества волновогофронта Ахметов И. И.Фролов П. Н.Шкурский Б. Б.2013 год

Ахроматический 3d-интерферометр для контроля и анализа качества волнового фронта

  • Ахметов И. И. и др.
  • 2013 год