Оценка размеров наночастиц графита - структурных блоков активированных углеродных волокон, путем моделирования профиля рентгеновской дифракции
статья из журнала
База данных:Каталог библиотеки СФУ
Аннотация:Размеры нанографитов - структурных блоков активированных углеродных волокон (АУВ) оценены без использования формулы Шеррера, путем компьютерного моделирования экспериментального профиля рентгеновской дифракции с помощью кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов. Расчет кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов был выполнен в терминах теории Уоррена-Боденштейна с учетом зависимости межатомных расстояний в нанографене от его размера. Приведены также данные исследований мотивов строения АУВ методами малоуглового рентгеновского и комбинационного рассеяний.
