Библиографическое описание:Саенко, Н. С. Оценка размеров наночастиц графита - структурных блоков активированных углеродных волокон, путем моделирования профиля рентгеновской дифракции / Н. С. Саенко, А. М. Зиатдинов. - (Химия). - Текст : непосредственный // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2013. - Т. 56, вып. 7. - С. 46-49 : 3 рис. - Библиогр.: с. 49 (17 назв.). - ISSN 0579-2991.
Аннотация:Размеры нанографитов - структурных блоков активированных углеродных волокон (АУВ) оценены без использования формулы Шеррера, путем компьютерного моделирования экспериментального профиля рентгеновской дифракции с помощью кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов. Расчет кривых рентгеновского рассеяния модельных нанографитов был выполнен в терминах теории Уоррена-Боденштейна с учетом зависимости межатомных расстояний в нанографене от его размера. Приведены также данные исследований мотивов строения АУВ методами малоуглового рентгеновского и комбинационного рассеяний.
