Библиографическое описание:Разработка стандартных образцов и методов калибровки малоугловых рентгеновских дифрактомеров для сертификации и стандартизации продукции наноиндустрии / А. С. Авилов [и др.]. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2013. - № 9. - С. 24-27. - ISSN 0368-1025.
Аннотация:Разработаны стандартные образцы толщины бислоев ленгмюровских пленок стеарата свинца на кварцевой подложке и методы калибровки с их использованием малоугловых рентгеновских дифрактометров.
