Библиографическое описание:Применение реконструированной поверхности кремния для калибровки сканирующих туннельных микроскопов / А. Ю. Кузин [и др.]. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2012. - № 7. - С. 26-30. - ISSN 0368-1025.
Аннотация:Продемонстрирована возможность использования реконструированной поверхности 7-7-Si (111) и монотоатомных ступеней на этой поверхности в качестве эталонных объектов для калибровки сверхвысоковакуумного сканирующего туннельного микроскопа.
