Библиографическое описание:Оперативный экспресс-контроль испорченных зерен риса с использованием систем компьютерного зрения / И. И. Погорелова [и др.]. - Текст : непосредственный // Известия вузов. Пищевая технология. - 2015. - № 4. - С. 100-104. - ISSN 0579-3009.
Аннотация:Предложены методы экспресс-анализа качества риса в системах компьютерного зрения (СКЗ). Исследованы образцы зерен риса перед первой системой шлифования рисозавода ОАО «Краснодарзернопродукт». Определение спектральных свойств риса с различным характером повреждений осуществляли на промышленном образце фотоэлектронного сепаратора АСЕ-3 фирмы Daewon GSI Co., Ltd. Дана количественная оценка геометрических размеров и цветовых характеристик локальных участков единичных зерновок риса, поврежденных клопом-черепашкой. Получены идентификационные характеристики hue, saturation, lightness по международной шкале HSL для поврежденных участков рисовых ядер. Характер распределения спектральных функций в поврежденных участках представляет практическую значимость для эффективного решения идентификационных задач, а также при изучении механизма воздействия вредителей на рисовую зерновку.
