Библиографическое описание:Киселев, М. И. Зачем нужна такая точность? / М. И. Киселев. - (Общие вопросы метрологии и измерительной техники). - Текст : непосредственный // Метрология. - 2013. - № 7. - С. 4-7. - Библиогр.: с. 7 (5 назв.). - ISSN 0132-4713.
Аннотация:Рассмотрена необходимость сокращения разрыва между степенями точности измерений в фундаментальных научных исследованиях и практике, предложено создать единую систему измерительно-вычислительного прогнозирующего мониторинга для оценки состояния технических объектов машиностроительного комплекса.
Ключевые слова:высокоточные измерительные системы, измерительно-вычислительный мониторинг, машиностроительный комплекс, метрологическое обеспечение, объекты машиностроительного комплекса, оценка состояния объектов, прогнозирующий мониторинг, системы измерительно-вычислительного мониторинга, технические объекты, точность измерений, фундаментальные научные исследования
Рубрики:Техника, Метрология
ISSN:0132-4713
Идентификаторы:полочный индекс К 44, шифр /К 44-042010
