1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Измерительная техника»
  5. Выпуск 2012 г. № 4
Исследованиеметрологическиххарактеристикизмерительногосканирующегозондового микроскопас применениемкалибровочных решетоктипа TGZ Гоголинский К. Б.Губский К. Г.Кузнецов А. Г.2012 год

Исследование метрологических характеристик измерительного сканирующего зондового микроскопа с применением калибровочных решеток типа TGZ
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (И 88)
Библиографическое описание: Исследование метрологических характеристик измерительного сканирующего зондового микроскопа с применением калибровочных решеток типа TGZ / К. Б. Гоголинский [и др.]. - (Оптико-физические измерения). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2012. - № 4. - С. 18-21. - ISSN 0368-1025.
Аннотация: Кратко описаны устройство и принцип работы отечественного измерительного сканирующего зондового микроскопа "НаноСкан-3Дi". Исследование метрологических характеристик этого измерительного комплекса с помощью линейных мер типа TGZ продемонстрировало высокий уровень воспроизводимости проводимых измерений и совпадение их результатов с данными, полученными при калибровке в PTB (Германия).
Год издания: 2012
Авторы: Гоголинский К. Б. , Губский К. Г. , Кузнецов А. Г. , Решетов Б. Н. , Маслеников И. И. , Голубев С. С. , Лысенко В. Г. , Румянцев С. И.
Источник: Измерительная техника
Выпуск: № 4
Номера страниц: 18-21
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Тестированиепрограммногообеспечениясканирующих зондовыхмикроскопов Голубев С. С.Кудеяров Ю. А.Козлов М. В.2012 год

Тестирование программного обеспечения сканирующих зондовых микроскопов

  • Голубев С. С. и др.
  • 2012 год

Сканирующие зондовые микроскопы

  • Казаков Валерий Дмитриевич
  • 2024 год

Получение первого изображения на сканирующем зондовом микроскопе ntegra academia. обработка и…

  • Круглов А. В.
  • 2022 год
Анализ дрейфаметрологическиххарактеристикизмерительныхустройств с помощьюцепей Маркова Сысоев Ю. С.2012 год

Анализ дрейфа метрологических характеристик измерительных устройств с помощью цепей Маркова

  • Сысоев Ю. С.
  • 2012 год
Анализ стабильностиработы измерительныхприборов путемстохастическогопрогнозированиядрейфа ихметрологических… Сысоев Ю. С.Тихомирова А. И.2012 год

Анализ стабильности работы измерительных приборов путем стохастического прогнозирования дрейфа их…

  • Сысоев Ю. С. и др.
  • 2012 год
Модуляционныйинтерференционныймикроскоп каксредство измерениялинейных размеровнаноструктур Григорьев С. Н.Андреев А. Г.Ромаш В. Е.2012 год

Модуляционный интерференционный микроскоп как средство измерения линейных размеров наноструктур

  • Григорьев С. Н. и др.
  • 2012 год
Электронно-зондовоеопределение составаминералов:микроанализатор илисканирующийэлектронныймикроскоп? Лаврентьев Юрий ГригорьевичКарманов Николай СеменовичУсова Лариса Викторовна2015 год

Электронно-зондовое определение состава минералов: микроанализатор или сканирующий электронный…

  • Лаврентьев Юрий Григорьевич и др.
  • 2015 год
Моделированиеметрологическиххарактеристикинтеллектуальныхизмерительныхприборов и систем Шевчук Валерий Петрович2011 год

Моделирование метрологических характеристик интеллектуальных измерительных приборов и систем

  • Шевчук Валерий Петрович
  • 2011 год

Показать ещё

Об одном подходе коцениваниюрезультатов ключевыхсличений эталонов принесогласованныхданных Чуновкина А. Г.Бурмистрова Н. А.Звягин Н. Д.2013 год

Об одном подходе к оцениванию результатов ключевых сличений эталонов при несогласованных данных

  • Чуновкина А. Г. и др.
  • 2013 год
Применениереконструированнойповерхности кремниядля калибровкисканирующихтуннельныхмикроскопов Кузин А. Ю.Тодуа П. А.Панов В. И.2012 год

Применение реконструированной поверхности кремния для калибровки сканирующих туннельных микроскопов

  • Кузин А. Ю. и др.
  • 2012 год
Использованиеавтоматизированногоинтерференционногомикроскопа вбиологическихисследованиях Минаев В. П.Юсипович А. И.2012 год

Использование автоматизированного интерференционного микроскопа в биологических исследованиях

  • Минаев В. П. и др.
  • 2012 год
Метрологическоеобеспечениеамплификаторовполимеразной цепнойреакции реальноговремени Кудеяров Ю. А.Кулябина Е. В.Марданов А. В.2014 год

Метрологическое обеспечение амплификаторов полимеразной цепной реакции реального времени

  • Кудеяров Ю. А. и др.
  • 2014 год
Виртуальные опорныезначения длякалибровки средствизмерений топографиипространственныхповерхностей Скрипка В. Л.Зеленкова М. В.2013 год

Виртуальные опорные значения для калибровки средств измерений топографии пространственных…

  • Скрипка В. Л. и др.
  • 2013 год
Ключевые сличенияэталонов вольтаРоссийской Федерациии Республики Беларусь Катков А. С.Черняев П. А.2013 год

Ключевые сличения эталонов вольта Российской Федерации и Республики Беларусь

  • Катков А. С. и др.
  • 2013 год
Тридцатиметровыйлазерныйинтерференционныйкомпаратор, входящийв составгосударственногопервичного эталонаединицы… Захаренко Ю. Г.Кононова Н. А.Лейбенгардт Г. И.2012 год

Тридцатиметровый лазерный интерференционный компаратор, входящий в состав государственного…

  • Захаренко Ю. Г. и др.
  • 2012 год

Метрологические характеристики электромеханических измерительных приборов непосредственной оценки

  • Рябцев Геннадий Георгиевич и др.
  • 2018 год