1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Измерительная техника»
  5. Выпуск 2013 г. № 9
Измерительныйкомплексспектроскопиинизкочастотных шумовполупроводниковыхдиодных структур Кострюков С. А.Ермачихин А. В.Литвинов В. Г.2013 год

Измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных шумов полупроводниковых диодных структур
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (И 37)
Библиографическое описание: Измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных шумов полупроводниковых диодных структур / С. А. Кострюков [и др.]. - (Радиотехнические измерения). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2013. - № 9. - С. 61-64. - ISSN 0368-1025.
Аннотация: Рассмотрен измерительный комплекс спектроскопии низкочастотных шумов полупроводниковых диодных структур для изучения механизмов генерации шума. Приведены конструктивно-методологические особенности автоматизированной установки для измерения и исследования шумов в полупроводниковых структурах.
Год издания: 2013
Авторы: Кострюков С. А. , Ермачихин А. В. , Литвинов В. Г. , Холомина Т. А. , Рыбин Н. Б.
Источник: Измерительная техника
Выпуск: № 9
Номера страниц: 61-64
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Разработкаавтоматизированногокомплекса дляисследования спектровнизкочастотного шумав элементах иструктурах… Литвинов В. Г.Холомина Т. А.Ермачихин А. В.2017 год

Разработка автоматизированного комплекса для исследования спектров низкочастотного шума в…

  • Литвинов В. Г. и др.
  • 2017 год
Методика и аппаратурадля измерениянизкочастотного шума Вьюгинов В. Н.Гудков А. Г.Добров В. А.2016 год

Методика и аппаратура для измерения низкочастотного шума

  • Вьюгинов В. Н. и др.
  • 2016 год
Обработкаэкспоненциальногорелаксационногосигнала вспектроскопическихметодах исследованияполупроводниковых… Ермачихин А. В.Трусов Е. П.Гудзев В. В.2023 год

Обработка экспоненциального релаксационного сигнала в спектроскопических методах исследования…

  • Ермачихин А. В. и др.
  • 2023 год
Исследованиеэлектронной структурыгуанидина и егопроизводных методамирентгеновскойфотоэлектроннойспектроскопии и… Короченцев В. В.Осьмушко И. С.Львов И. Б.2014 год

Исследование электронной структуры гуанидина и его производных методами рентгеновской…

  • Короченцев В. В. и др.
  • 2014 год
Измерительно-диагностический комплекс дляопределениярасположения скрытыхтрубопроводов Гапоненко Сергей ОлеговичКондратьев АлександрЕвгеньевичПолитова Татьяна Олеговна2013 год

Измерительно-диагностический комплекс для определения расположения скрытых трубопроводов

  • Гапоненко Сергей Олегович и др.
  • 2013 год
Измерительно-диагностический комплекс длядиагностикиэнергетическихустановок Низамиев М. Ф.Ившин И. В.Владимиров О. В.2014 год

Измерительно-диагностический комплекс для диагностики энергетических установок

  • Низамиев М. Ф. и др.
  • 2014 год
Измерительныйкомплекс для контроляхарактеристиксубмодулей выходныхусилителей мощностиприемопередающихмодулей… Тарасов Р. Г.Сергеев В. А.2018 год

Измерительный комплекс для контроля характеристик субмодулей выходных усилителей мощности…

  • Тарасов Р. Г. и др.
  • 2018 год
Информационно-измерительный комплексисследованияфакторов, влияющих наэргономикупроизводственнойсреды… Ягольницер О. В.Бугримова Е. В.Соболев А. Н.2016 год

Информационно-измерительный комплекс исследования факторов, влияющих на эргономику…

  • Ягольницер О. В. и др.
  • 2016 год

Показать ещё

Исследование шумовыххарактеристикгерметизированныхмагнитоуправляемыхконтактов Логинов Д. С.Литвинов В. Г.Холомина Т. А.2019 год

Исследование шумовых характеристик герметизированных магнитоуправляемых контактов

  • Логинов Д. С. и др.
  • 2019 год
Исследованиеструктуры жидкихстекол для сварочныхэлектродов методомядерной магнитнойспектроскопии Марченко А. Е.Скорина Н. В.Киселев М. О.2017 год

Исследование структуры жидких стекол для сварочных электродов методом ядерной магнитной…

  • Марченко А. Е. и др.
  • 2017 год

Радиоэлектронная и силовая электронная аппаратура. Диодные и тиристорные структуры, их применение

  • Никифоров И. К. и др.
  • 2021 год
Роль контактов принепосредственномизмерении шумовойтемпературы образцов,нагреваемых током Черевко А. Г.2012 год

Роль контактов при непосредственном измерении шумовой температуры образцов, нагреваемых током

  • Черевко А. Г.
  • 2012 год
Анализ фазовых шумовв гетеродиннойинтерферометрии сакустооптическимпреобразованиемчастоты света Гришин С. Г.Телешевский В. И.2014 год

Анализ фазовых шумов в гетеродинной интерферометрии с акустооптическим преобразованием частоты света

  • Гришин С. Г. и др.
  • 2014 год

Способ оценки дальности до подводного объекта по кривизне волнового фронта в условиях воздействия…

  • Шостак C. В. и др.
  • 2019 год

Control of the Shape of Semiconductor Crystals when Growing in Czochralski Method

  • Sahanskiy Sergey P.
  • 2014 год

Автоматизированный измерительный комплекс для исследования частотных характеристик СВЧ - фильтров…

  • Гладышев А. Б. и др.
  • 2019 год