Измерение линейных размеров элементов нанорельефа с трапецеидальным профилем сечения методом дефокусировки электронного пучка растрового электронного микроскопа
Библиографическое описание:Измерение линейных размеров элементов нанорельефа с трапецеидальным профилем сечения методом дефокусировки электронного пучка растрового электронного микроскопа / В. П. Гавриленко [и др.]. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2012. - № 5. - С. 19-21. - ISSN 0368-1025.
Аннотация:Экспериментально показана возможность применения способа измерений геометрических размеров элементов нанорельефа, основанного на дефокусировке электронного пучка растрового электронного микроскопа, к измерению верхнего основания трапецеидального выступа с шириной, близкой к диаметру пучка.