1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Измерительная техника»
  5. Выпуск 2012 г. № 7
Интерференционныеизмерения внанотехнологиях Золотаревский Ю. М.Левин Г. Г.2012 год

Интерференционные измерения в нанотехнологиях
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (З-80)
Библиографическое описание: Золотаревский, Ю. М. Интерференционные измерения в нанотехнологиях / Ю. М. Золотаревский, Г. Г. Левин. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2012. - № 7. - С. 24-26. - ISSN 0368-1025.
Аннотация: Показана перспективность интерференционных измерений для анализа нанотехнологических изделий и процессов, обусловленная достижениями, полученными при разработке методов и средств измерений параметров волновых фронтов. Высокая степень автоматизации, развитие новых методов обработки и интерпретации интерферограмм позволили достичь аксиальной разрешающей способности до одного ангстрема практически в реальном времени.
Год издания: 2012
Авторы: Золотаревский Ю. М. , Левин Г. Г.
Источник: Измерительная техника
Выпуск: № 7
Номера страниц: 24-26
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Сравнение латеральныхразрешенийоптического иинтерференционногомикроскопов Левин Г. Г.Моисеев Н. Н.Минаев В. Л.2013 год

Сравнение латеральных разрешений оптического и интерференционного микроскопов

  • Левин Г. Г. и др.
  • 2013 год
О латеральномразрешенииинтерференционногомикроскопа Левин Г. Г.Вишняков Г. Н.Моисеев Н. Н.2013 год

О латеральном разрешении интерференционного микроскопа

  • Левин Г. Г. и др.
  • 2013 год
Влияние фокусировкина латеральноеразрешениеинтерференционногомикроскопа Левин Г. Г.Моисеев Н. Н.Илюшин Я. А.2014 год

Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа

  • Левин Г. Г. и др.
  • 2014 год
Анализ методовсверхразрешения воптическойинтерференционноймикроскопии Булыгин Ф. В.Золотаревский С. Ю.Кононогов С. А.2013 год

Анализ методов сверхразрешения в оптической интерференционной микроскопии

  • Булыгин Ф. В. и др.
  • 2013 год
Обеспечение единстваизмерений воптометрии Левина Э. Ю.Вишняков Г. Н.Ермаков М. М.2014 год

Обеспечение единства измерений в оптометрии

  • Левина Э. Ю. и др.
  • 2014 год
Спекл-интерферометрдля измерениярадиальныхперемещений Григорьев С. Н.Ошурко В. Б.Штанько А. Е.2012 год

Спекл-интерферометр для измерения радиальных перемещений

  • Григорьев С. Н. и др.
  • 2012 год
Интегральныеизмерения цветананоразмерныхизлучателей Марков Е. В.Михайлов О. М.2014 год

Интегральные измерения цвета наноразмерных излучателей

  • Марков Е. В. и др.
  • 2014 год
Соотношениенеопределенностей исоотношениепогрешностей воптических измерениях Смирнов В. И.2014 год

Соотношение неопределенностей и соотношение погрешностей в оптических измерениях

  • Смирнов В. И.
  • 2014 год

Показать ещё

Вопросы измерениякомпонентов системы"вегетация -облачность" в районеаэропортов Асадов Х. Г.Исмаилов К. Х.Ибрагимов З. А.2012 год

Вопросы измерения компонентов системы "вегетация - облачность" в районе аэропортов

  • Асадов Х. Г. и др.
  • 2012 год
Ахроматический3d-интерферометр дляконтроля и анализакачества волновогофронта Ахметов И. И.Фролов П. Н.Шкурский Б. Б.2013 год

Ахроматический 3d-интерферометр для контроля и анализа качества волнового фронта

  • Ахметов И. И. и др.
  • 2013 год
Метод и аппаратурадля прецизионныхизмеренийкоэффициентовпоглощениямикроволновыхширокоапертурных взакрытых… Юрчук З. Ф.Арсаев И. Е.2012 год

Метод и аппаратура для прецизионных измерений коэффициентов поглощения микроволновых…

  • Юрчук З. Ф. и др.
  • 2012 год
Погрешностивысокоточныхизмерений среднеймощности оптическогоизлучения вволоконно-оптическихсистемах передачи… Глазов А. И.Козаченко М. Л.Светличный А. Б.2014 год

Погрешности высокоточных измерений средней мощности оптического излучения в волоконно-оптических…

  • Глазов А. И. и др.
  • 2014 год
Использование данныхо порогахцветоразличения дляизмерения цветовыхразличий Со И. А.2012 год

Использование данных о порогах цветоразличения для измерения цветовых различий

  • Со И. А.
  • 2012 год
Спецификаформированиянеопределенностиизмеренийгеометрическихпараметров рельефаповерхности методами… Золотаревский С. Ю.Кононогов С. А.Лысенко В. Г.2013 год

Специфика формирования неопределенности измерений геометрических параметров рельефа поверхности…

  • Золотаревский С. Ю. и др.
  • 2013 год
ПрименениеS-преобразования взадачахспекл-интерферометрии Штанько А. Е.Каленков Г. С.Иванова С. Д.2013 год

Применение S-преобразования в задачах спекл-интерферометрии

  • Штанько А. Е. и др.
  • 2013 год
Фотометрическийконтрольинтегральногорассеяния при оценкекачестваинтерференционныхзеркал Азарова Валентина ВасильевнаЛобанов Петр ЮрьевичМануйлович Иван Сергеевич2017 год

Фотометрический контроль интегрального рассеяния при оценке качества интерференционных зеркал

  • Азарова Валентина Васильевна и др.
  • 2017 год