Библиографическое описание:Богомолова, С. А. Оценка расширенной неопределенности результата измерения тока короткого замыкания тонкопленочных фотоэлектрических модулей / С. А. Богомолова, Ю. Е. Лукашов, М. З. Шварц. - (Общие вопросы метрологии и измерительной техники). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2013. - № 11. - С. 7-12. - ISSN 0368-1025.
Аннотация:Дан анализ источников неопределенности результата измерения тока короткого замыкания тонкопленочного фотоэлектрического модуля. Разработана диаграмма Исикавы, отображающая основные источники неопределенности при использовании импульсного имитатора солнечного излучения. Выполнен расчет расширенной суммарной неопределенности результата измерения тока короткого замыкания с учетом выявленных источников.
