Повышение качества тестирования высокопроизводительных микропроцессоров методами встречного тестирования с анализом функционального тестового покрытия выделенных приложений
Библиографическое описание:Бобков, С. Г. Повышение качества тестирования высокопроизводительных микропроцессоров методами встречного тестирования с анализом функционального тестового покрытия выделенных приложений / С. Г. Бобков, П. А. Чибисов. - (Вычислительные системы и сети). - Текст : непосредственный // Информационные технологии. - 2013. - № 8. - С. 26-33. - Библиогр.: с. 33 (11 назв.). - ISSN 1684-6400.
Аннотация:Предлагается методика повышения качества тестирования микропроцессоров за счет введения в маршрут тестирования предложенного метода "встречного" тестирования с анализом полного функционального покрытия выделенных задач для ответственных применений.
