1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Измерительная техника»
  5. Выпуск 2012 г. № 4
Вопросы измерениякомпонентов системы"вегетация -облачность" в районеаэропортов Асадов Х. Г.Исмаилов К. Х.Ибрагимов З. А.2012 год

Вопросы измерения компонентов системы "вегетация - облачность" в районе аэропортов
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (А 90)
Библиографическое описание: Асадов, Х. Г. Вопросы измерения компонентов системы "вегетация - облачность" в районе аэропортов / Х. Г. Асадов, К. Х. Исмаилов, З. А. Ибрагимов. - (Оптико-физические измерения). - Текст : непосредственный // Измерительная техника. - 2012. - № 4. - С. 32-34. - ISSN 0368-1025.
Аннотация: Обобщен известный метод измерения оптической толщины облаков с использованием радиационного двухспектрального потока с подстилающего вегетационного покрова. Показана возможность определения состояния не только облаков, но и вегетации. Доказана теорема, согласно которой известный нормализованный дифференциальный облачный индекс всегда меньше или равен значению одномоментного вегетационного индекса. Синтезированы обобщенные прямые и инверсные вегетационные индексы, наиболее приспособленные в информационном смысле для реализации предложенного обобщенного метода.
Год издания: 2012
Авторы: Асадов Х. Г. , Исмаилов К. Х. , Ибрагимов З. А.
Источник: Измерительная техника
Выпуск: № 4
Номера страниц: 32-34
Количество экземпляров:
  • Абонемент научной литературы (пр. Свободный, 79, Б1-14): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Погрешностивысокоточныхизмерений среднеймощности оптическогоизлучения вволоконно-оптическихсистемах передачи… Глазов А. И.Козаченко М. Л.Светличный А. Б.2014 год

Погрешности высокоточных измерений средней мощности оптического излучения в волоконно-оптических…

  • Глазов А. И. и др.
  • 2014 год
Повышение точностивоспроизведенияединицы среднеймощности оптическогоизлучения вволоконно-оптическихсистемах… Глазов А. И.Зотов А. В.Козаченко М. Л.2014 год

Повышение точности воспроизведения единицы средней мощности оптического излучения в волоконно…

  • Глазов А. И. и др.
  • 2014 год
Сравнение латеральныхразрешенийоптического иинтерференционногомикроскопов Левин Г. Г.Моисеев Н. Н.Минаев В. Л.2013 год

Сравнение латеральных разрешений оптического и интерференционного микроскопов

  • Левин Г. Г. и др.
  • 2013 год
Эталон единиц среднеймощности и ослабленияоптического излучениядляволоконно-оптическихсистем связи ипередачи… Глазов А. И.Зотов А. В.Козаченко М. Л.2014 год

Эталон единиц средней мощности и ослабления оптического излучения для волоконно-оптических систем…

  • Глазов А. И. и др.
  • 2014 год
Волоконно-оптическийизмеритель стрелкипрогиба деталей Титов А. А.Албагаичев А. Ю.2014 год

Волоконно-оптический измеритель стрелки прогиба деталей

  • Титов А. А. и др.
  • 2014 год
Обеспечение единстваизмерений воптометрии Левина Э. Ю.Вишняков Г. Н.Ермаков М. М.2014 год

Обеспечение единства измерений в оптометрии

  • Левина Э. Ю. и др.
  • 2014 год
Влияние фокусировкина латеральноеразрешениеинтерференционногомикроскопа Левин Г. Г.Моисеев Н. Н.Илюшин Я. А.2014 год

Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа

  • Левин Г. Г. и др.
  • 2014 год
Способфотометрическогоконтроля негомогенныхматериалов по методудифференциальнойспектроскопии Алиева К. Дж.2014 год

Способ фотометрического контроля негомогенных материалов по методу дифференциальной спектроскопии

  • Алиева К. Дж.
  • 2014 год

Показать ещё

Волоконно-оптическийпреобразователь углас упреждающейкоррекциейпогрешностинеравномерностиделения оптической… Гречишников В. М.Домрачев В. Г.Теряева О. В.2014 год

Волоконно-оптический преобразователь угла с упреждающей коррекцией погрешности неравномерности…

  • Гречишников В. М. и др.
  • 2014 год
Соотношениенеопределенностей исоотношениепогрешностей воптических измерениях Смирнов В. И.2014 год

Соотношение неопределенностей и соотношение погрешностей в оптических измерениях

  • Смирнов В. И.
  • 2014 год
Эллипсометрическийспособ оценкинеоднородноститолщинытонкопленочныхпокрытий Батурин А. С.Бормашов В. С.Гавриленко В. П.2013 год

Эллипсометрический способ оценки неоднородности толщины тонкопленочных покрытий

  • Батурин А. С. и др.
  • 2013 год
Экспериментальныеисследованияметрологическиххарактеристикоптического сканераCAD/CAM-системыOptikDent Вишняков Г. Н.Левин Г. Г.Цаликова Н. А.2013 год

Экспериментальные исследования метрологических характеристик оптического сканера CAD/CAM-системы…

  • Вишняков Г. Н. и др.
  • 2013 год
Фурье-спектрометр каксистемаголографическогоизображениямикрообъектов внизкокогерентномсвете Каленков С. Г.Каленков Г. С.Штанько А. Е.2012 год

Фурье-спектрометр как система голографического изображения микрообъектов в низкокогерентном свете

  • Каленков С. Г. и др.
  • 2012 год
Ахроматический3d-интерферометр дляконтроля и анализакачества волновогофронта Ахметов И. И.Фролов П. Н.Шкурский Б. Б.2013 год

Ахроматический 3d-интерферометр для контроля и анализа качества волнового фронта

  • Ахметов И. И. и др.
  • 2013 год
О латеральномразрешенииинтерференционногомикроскопа Левин Г. Г.Вишняков Г. Н.Моисеев Н. Н.2013 год

О латеральном разрешении интерференционного микроскопа

  • Левин Г. Г. и др.
  • 2013 год
Калориметрическиепреобразователи длядискретных измеренийсредней мощностиизлученияволоконно-оптическихлазеров Козаченко М. Л.Тихомиров С. В.Хатырев Н. П.2014 год

Калориметрические преобразователи для дискретных измерений средней мощности излучения волоконно…

  • Козаченко М. Л. и др.
  • 2014 год