1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
  4. Журнал «Метрология»
  5. Выпуск 2013 г. № 8
Анализ методовсверхразрешения воптическойинтерференционноймикроскопии Булыгин Ф. В.Золотаревский С. Ю.Кононогов С. А.2013 год

Анализ методов сверхразрешения в оптической интерференционной микроскопии
статья из журнала

Заказать копию статьи
База данных: Каталог библиотеки СФУ (А 64)
Библиографическое описание: Анализ методов сверхразрешения в оптической интерференционной микроскопии / Ф. В. Булыгин [и др.]. - (Нанометрология). - Текст : непосредственный // Метрология. - 2013. - № 8. - С. 21-30. - Библиогр.: с. 30 (11 назв.). - ISSN 0132-4713.
Аннотация: Рассмотрены методы сверхразрешения при измерении параметров рельефа и структуры поверхности в нанометровом диапазоне.
Год издания: 2013
Авторы: Булыгин Ф. В. , Золотаревский С. Ю. , Кононогов С. А. , Илюшин Я. А. , Левин Г. Г. , Лясковский В. Л.
Источник: Метрология
Выпуск: № 8
Номера страниц: 21-30
Количество экземпляров:
  • Читальный зал (пер. Вузовский, 6Д): свободно 1 из 1 экземпляров

Похожие публикации

Интерференционныеизмерения внанотехнологиях Золотаревский Ю. М.Левин Г. Г.2012 год

Интерференционные измерения в нанотехнологиях

  • Золотаревский Ю. М. и др.
  • 2012 год
Спецификаформированиянеопределенностиизмеренийгеометрическихпараметров рельефаповерхности методами… Золотаревский С. Ю.Кононогов С. А.Лысенко В. Г.2013 год

Специфика формирования неопределенности измерений геометрических параметров рельефа поверхности…

  • Золотаревский С. Ю. и др.
  • 2013 год
Сравнение латеральныхразрешенийоптического иинтерференционногомикроскопов Левин Г. Г.Моисеев Н. Н.Минаев В. Л.2013 год

Сравнение латеральных разрешений оптического и интерференционного микроскопов

  • Левин Г. Г. и др.
  • 2013 год
Методы контроля формыи качестваповерхностейкрупногабаритныхвысокоточныхоптических элементов Барышников Н. В.Гладышева Я. В.Денисов Д. Г.2014 год

Методы контроля формы и качества поверхностей крупногабаритных высокоточных оптических элементов

  • Барышников Н. В. и др.
  • 2014 год
Анализнеопределенностей,обусловленныхметодическими иинструментальнымипогрешностямиинтерферометриипараметров… Новиков Д. А.Кононогов С. А.Золотаревский С. Ю.2013 год

Анализ неопределенностей, обусловленных методическими и инструментальными погрешностями…

  • Новиков Д. А. и др.
  • 2013 год

Лазерная интерференционная микроскопия в качестве метода анализа функционального состояния…

  • Дерюгина А. В. и др.
  • 2020 год
Основные физическиеэффекты, влияющие наформированиенеопределенностиизмерений параметроврельефа поверхностив… Кононогов С. А.Золотаревский С. Ю.Лысенко В. Г.2013 год

Основные физические эффекты, влияющие на формирование неопределенности измерений параметров…

  • Кононогов С. А. и др.
  • 2013 год
Влияние фокусировкина латеральноеразрешениеинтерференционногомикроскопа Левин Г. Г.Моисеев Н. Н.Илюшин Я. А.2014 год

Влияние фокусировки на латеральное разрешение интерференционного микроскопа

  • Левин Г. Г. и др.
  • 2014 год

Показать ещё

Анализ измененияяркости световогогауссова пучка взадаче поиска точкифокуса оптическойсистемы Попов Дмитрий Андреевич2014 год

Анализ изменения яркости светового гауссова пучка в задаче поиска точки фокуса оптической системы

  • Попов Дмитрий Андреевич
  • 2014 год
Инженерные основыизмеренийнанометровой точности Лич Ричард2012 год

Инженерные основы измерений нанометровой точности

  • Лич Ричард
  • 2012 год

Оптическая микроскопия в исследовании структуры и функций биологических объектов. Ч. 1….

  • Балалаева И. В. и др.
  • 2012 год
Физические принципыэлектронноймикроскопии. Введениев просвечивающую,растровую ианалитическуюэлектронную… Эгертон Рэй Ф.2010 год

Физические принципы электронной микроскопии. Введение в просвечивающую, растровую и аналитическую…

  • Эгертон Рэй Ф.
  • 2010 год
Анализ превращенийкарбидных фаз всплаве 25CR35NIметодомколичественнойэлектронноймикроскопии Кондратьев С. Ю.Пташник А. В.Анастасиади Г. П.2015 год

Анализ превращений карбидных фаз в сплаве 25CR35NI методом количественной электронной микроскопии

  • Кондратьев С. Ю. и др.
  • 2015 год

Методы анализа поверхности. Ч. 1. Методы локального анализа иэлектронная микроскопия

  • Ищенко А. А. и др.
  • 2021 год

Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии

  • Вознесенский Э. Ф. и др.
  • 2014 год
Определениегранулометрическогосостава порошков наоснове диоксидациркония методамистатистическоголазерного… Миронов Р. А.Забежайлов М. О.Якушкина В. С.2016 год

Определение гранулометрического состава порошков на основе диоксида циркония методами…

  • Миронов Р. А. и др.
  • 2016 год