1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск

Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности : методические указания

Полный текст
Доступ к полному тексту через электронную библиотечную систему «Лань».
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Маняхин, Ф. И. Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности : методические указания / Ф. И. Маняхин. - Москва : МИСИС, 2002. - 65 с. - . Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки
Аннотация: Приведены ширины запрещенной зоны, энергии ионизации примесных и рекомбинационных центров – по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни носителей заряда и электропроводности. Описана интерактивная компьютерная расчетная программа в среде Mathcad, имитирующая реальную ситуацию экспериментального исследования свойств полупроводника по температурным зависимостям его основных параметров. Приведено подробное поэтапное описание методики расчета, а также программа расчета в среде Mathcad с описанием файлов основной программы и субпрограмм. Предлагаемая методика может быть использована как в учебном процессе, так и в научных исследованиях. Пособие состоит из двух частей. Первая часть предназначена для студентов направлений 6541, 5531, 5507, обучающихся по специальностям 200100, 071000, выполняющих курсовую работу по физике твердого тела. Вторая часть предназначена для преподавателей, составляющих задания к курсовой работе
Год издания: 2002
Авторы: Маняхин Ф. И.
Издательство: МИСИС, Москва
Количество страниц: 65
Количество экземпляров:
Издание имеется только в электронном виде

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Похожие публикации

Определение параметров полупроводника из температурной зависимости удельного сопротивления и…

  • 2014 год
Физика твердого телаи полупроводников.Определение временижизни неосновныхносителей зарядаметодом модуляции… Дикарева Регина ПетровнаХабаров Сергей Павлович2011 год

Физика твердого тела и полупроводников. Определение времени жизни неосновных носителей заряда…

  • Дикарева Регина Петровна и др.
  • 2011 год

Физические процессы в полупроводниках при облучении быстрыми частицами. Теория и расчет

  • Ладыгин Е. А. и др.
  • 2001 год
Теплотехника :тепловой расчеткамерных печей Герцык С. И.Чернов В. В.2014 год

Теплотехника : тепловой расчет камерных печей

  • Герцык С. И. и др.
  • 2014 год

Анализ схем на операционных усилителях с применением интерактивной программы Electronics Workbench

  • Маняхин Ф. И. и др.
  • 2002 год

Температурная зависимость сопротивления полупроводников и металлов

  • Черный В. В. и др.
  • 2016 год

Основы калибровки валков сортопрокатных станов

  • Шишко В. Б. и др.
  • 2003 год

Технология материалов электронной техники

  • Кожитов Л. В. и др.
  • 2004 год

Показать ещё