Библиографическое описание:Брандон, Д. . Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учебное пособие по направлению подготовки "Прикладные математика и физика" : пер с англ. / Д. Брандон, У. Каплан. - Москва : Техносфера, 2004. - 377 с. : ил. - (Мир материалов и технологий). - ISBN 5-94836-018-0 (в пер.). - Текст : непосредственный.Является аналогом : Брандон Д. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля : учеб. пособие для студентов, обуч. по направлению подгот. "Прикладная математика и физика" / Д. Брандон, У. Каплан ; ред. пер. с англ.: С. Л. Баженов, О. В. Егорова, 2006. - 377 с. - Текст : непосредственный.
Аннотация:Учебник посвящен современным методам исследования для материалов. В книге четко и детально описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии. Количественные методы микроанализа включают и рентгеновские микроанализаторы, встроенные в новейшие модели электронных микроскопов.
