Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов : учебно-методическое пособие для лабораторных работ [для студентов спец. 223200.68 «Техническая физика»]
Библиографическое описание:Новые материалы наноматериаловедения. Рентгенофазовый анализ тонких пленок и порошковых образцов : учебно-методическое пособие для лабораторных работ [для студентов спец. 223200.68 «Техническая физика»] / Сиб. федер. ун-т, Ин-т инженер. физики и радиоэлектроники ; сост.: Г. Н. Чурилов, А. И. Дудник. - Электрон. текстовые дан. (PDF, 656 Кб). - Красноярск : СФУ, 2013. - Загл. с титул. экрана. - Библиогр.: с. 20. - Изд. № 2013-3988. - Текст : электронный.
Аннотация:В учебно-методическом пособии описаны краткие теоретические сведения по способу получения рентгеновских лучей, их взаимодействию с кристаллической структурой вещества и принципам рентгенофазового анализа. Рентгенофазовый анализ проводится на автоматизированной установке ДРОН-4. Предназначено для студентов специальности 223200.68 «Техническая физика».
