Данная работа посвящена изучению зависимости обменного смещения от толщины промежу-
точного слоя меди и температуры в поликристаллических трехслойных пленках ферромагне-
тик/немагнитный метал/антиферромагнетик (Fe/Cu/СоО). Выявлен осциллирующий характер
величины обменного смещения в зависимости от толщины медной прослойки. Осцилляция наи-
более четко проявляется в определенном диапазоне температур. Впервые нами обнаружена ос-
цилляция обменного смещения с ростом температуры, данные осцилляции происходят со сменой
знака поля обменного взаимодействия. This paper considers the dependence exchange bias on the thickness of the intermediate layer of cop-
per and temperature in polycrystalline thin films ferromagnet / nonmagnetic metal / antiferromagnet
(Fe/Cu/CoO). We have revealed oscillatory of exchange bias value in depending on the thickness of the
copper layer. The oscillation of the most clearly manifested in a certain range of temperatures. For the
first time by us detected the oscillation of the exchange bias with increasing temperature, these oscillations
occur with a change of sign of the field exchange interaction.