In the present work, we study the Talbot effect under selective reflection of probe radiation
at the interface between a dielectric and a layer of resonant atoms, in which a Raman grating is induced.
Under such conditions, the interface can operate as a reflective diffraction grating. The cases of one- and
two-dimensional gratings are considered. It is shown that the reflection coefficient, with the account of
the selectively reflected wave, can be both greater or smaller than the usual Fresnel reflection coefficient.
The Talbot effect can be observed for a selectively reflected wave in the near-field diffraction region.
The spatial structure of the diffraction patterns essentially depends on the pump field intensity and the
Raman detuning. В работе исследуется эффект Тальбота при селективном отражении пробного излучения на границе раздела диэлектрик — слой резонансных атомов, в котором индуцируется рамановская решетка. В таких условиях интерфейс может выступать как отражательная дифракционная
решетка. Рассмотрены случаи одномерных и двумерных решеток. Показано, что коэффициент отражения с учетом селективно отраженной волны может быть как больше, так и меньше обычного
коэффициента отражения Френеля. Эффект Тальбота можно наблюдать для селективно отраженной волны в ближней дифракционной области. Пространственная структура дифракционных
картин существенно зависит от напряженности поля накачки и рамановской отстройки