Аннотация:С помощью сканирующего спектрометра ферромагнитного резонанса (ФМР) изучены магнитные свойства нанокристаллических тонких пленок, изготовленных методом магнетронного распыления мишеней пермаллоя различного состава Ni x Fe1-x ( x = 0.6-0.85). Проведен анализ особенностей поведения основных магнитных характеристик вблизи краев тонких пленок. Показано, что вблизи краев пленок не только значительно отклоняется величина поля одноосной магнитной анизотропии от среднего значения, но и резко уширяется линия ФМР, а также уменьшается эффективная намагниченность насыщения.