С помощью сканирующего
спектрометра ферромагнитного
резонанса (ФМР) изучены магнитные
свойства нанокристаллических
тонких пленок, изготовленных
методом магнетронного распыления
мишеней пермаллоя различного
состава Ni x Fe1-x ( x = 0.6-0.85). Проведен
анализ особенностей поведения
основных магнитных характеристик
вблизи краев тонких пленок.
Показано, что вблизи краев пленок
не только значительно отклоняется
величина поля одноосной магнитной
анизотропии от среднего значения,
но и резко уширяется линия ФМР, а
также уменьшается эффективная
намагниченность насыщения.
Ключевые слова через запятую:
тонкая магнитная пленка,
ферромагнитный резонанс, краевые
эффекты, магнитная анизотропия.