«Модуль обнаружениядефектов паянного швав процессеиндукционной пайки сиспользованиемдвухэтапногодетектора… :регистрация программыдля ЭВМ Тынченко Вадим СергеевичМурыгин Александр ВладимировичШуткина Елизавета Вячеславовна2026 год

«Модуль обнаружения дефектов паянного шва в процессе индукционной пайки с использованием двухэтапного детектора объектов Fast R-CNN» : регистрация программы для ЭВМ
патент

Похожие публикации

Показать ещё