Модуль обнаружениядефектов паяногосоединения в процессеиндукционной пайки сиспользованиемсверточных нейронных…: регистрацияпрограммы для ЭВМ Тынченко Вадим СергеевичМурыгин Александр ВладимировичШуткина Елизавета Вячеславовна2026 год

Модуль обнаружения дефектов паяного соединения в процессе индукционной пайки с использованием сверточных нейронных сетей с одноэтапной архитектурой детекции объектов : регистрация программы для ЭВМ
патент

Похожие публикации

Показать ещё