Библиографическое описание:Специфика дефектообразования в детекторах на основе теллурида кадмия при импульсном тепловом воздействии : научное издание / А. В. Мозжерин, Н. Н. Паклин, Ю. Ю. Логинов. - Текст : непосредственный // Сибирский аэрокосмический журнал. - 2024. - Т. 25, № 3. - С. 384-390. - ISSN 2712-8970, DOI 10.31772/2712-8970-2024-25-3-384-390.
Аннотация:Active development of high technologies in the aerospace industry requires consideration of the operation of devices and equipment under extreme conditions; it is important to study the degradation of materials during rapid heating and cooling. In this paper, based on the theoretical and experimental work performed, we consider the degradation of cadmium telluride detectors caused by the development and evolution of a network of point defects caused by pulsed exposure with a heat dose of about 1000 ºC for no more than 10 seconds, simulating an extreme situation of a short circuit near the detector or direct heating by light pulses. The study showed that the crystalline material quickly degrades under such extreme conditions due to the rapid evolution of the defect network. The phenomenological model of the formation and distribution of defects during short-term exposure of the detector to thermal radiation has been improved. Electron microscopic studies of samples exposed to pulsed infrared radiation showed the development of a dense defect network, vacancy and interstitial defects, clusters and other damage in all samples.
Активное развитие наукоемких технологий в аэрокосмической отрасли требует рассмотрения работы приборов и устройств в экстремальных условиях, важно исследовать деградацию материалов при быстром нагревании и охлаждении. В данной статье, на основе выполненной теоретической и экспериментальной работы, рассмотрена деградация детекторов на основе теллурида кадмия, вызванная развитием и эволюцией сети точечных дефектов, обусловленных импульсным воздействием с теплодозой около 1000 ºС в течение не более 10 с, имитирующим экстремальную ситуацию короткого замыкания вблизи детектора или прямое нагревание световыми импульсами. Исследование показало, что кристаллический материал в таких экстремальных условиях быстро деградирует вследствие стремительной эволюции дефектной сети. Доработана феноменологическая модель образования и распределения дефектов при кратковременном воздействии теплового излучения на детектор. Электронно-микроскопические исследования образцов, подвергшихся воздействию импульсного инфракрасного излучения, показали развитие плотной дефектной сети, дефектов вакансионного и междоузельного типов, их кластеров и прочих повреждений во всех образцах.
