Библиографическое описание:Определение показателей преломления слоев фотонного кристалла из анодного оксида алюминия : научное издание / М. В. Пятнов [и др.]. - Текст : непосредственный // Журнал технической физики. - 2024. - Т.94, №2. - С. 278-283. - Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда и Красноярского краевого фонда поддержки научной и научно-технической деятельности N 22-22-20078, https://rscf.ru/project/22-22-20078/. - ISSN 0044-4642. - ISSN 1726-748X, DOI 10.61011/JTF.2024.02.57083.218-23.
Аннотация:Методом анодирования алюминиевой фольги изготовлены образцы фотонных кристаллов с различным количеством периодов структуры. Используя угловую зависимость спектров пропускания, данные просвечивающей электронной микроскопии и численное моделирование, определены показатели преломления слоев фотонных кристаллов. Определена структура образцов, толщина слоев и их пористость. Теория эффективной среды в приближениях Бруггемана, Максвелл-Гарнетта, Монека, Ландау-Лившица/Луенга, Лоренца-Лоренца, дель Рио-Циммермана-Дайва, а также комплексного показателя преломления применена для определения показателей преломления слоев. Все приближения показали близкие значения, что говорит о возможности их использования для описания гетерогенных диэлектрических сред.
Samples of photonic crystals with a different number of structure periods were fabricated by the method of anodizing aluminum foil. Using the angular dependence of transmission spectra, transmission electron microscopy data and numerical simulation, the refractive indices of photonic crystal layers are determined. The structure of the samples, the thickness of the layers and their porosity were determined. The theory of the effective medium in the approximations of Bruggemann, Maxwell Garnett, Monecke, Landau - Lifshitz / Looyenga, Lorentz-Lorentz, del Rio - Zimmerman - Dawe, as well as the complex refractive index is applied to determine the refractive indices of the layers. All approximations showed similar values, which indicates the possibility of using them to describe heterogeneous dielectric media.
Издательство:Российская академия наук, Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург
Источник:Журнал технической физики
Выпуск:Т.94, №2
Номера страниц:278-283
Держатель оригинала документа:Институт вычислительного моделирования СО РАН, Институт физики им. Л.В. Киренского КНЦ СО РАН, Сибирский федеральный университет, Федеральный исследовательский центр Красноярский научный центр СO РАН
Количество экземпляров:
Твёрдая копия издания отсутствует в фонде библиотеки
