Библиографическое описание:ОПРЕДЕЛЕНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ПОВЕРХНОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПЛАСТИН С ПОМОЩЬЮ РАССЕЯНИЯ СВЕТА : научное издание / В. Г. Подопригора, С. А. Раковская. - Текст : непосредственный // Международный журнал прикладных и фундаментальных исследований. - 2023. - №6. - С. 59-62. - DOI 10.17513/mjpfi.13554.
Аннотация:В работе предложен новый способ определения параметров шероховатостей и корреляционной функции (КФ) сверхгладких диэлектрических пластин. Способ основан на нахождении из экспериментальной индикатрисы рассеивания света коэффициентов разложения (КФ) в ряд по системе ортогональных функций с последующим вычислением среднеквадратичных отклонений высот неровностей поверхности σ и периода корреляции Т. Отличительными особенностями метода являются: 1) отсутствие неоднозначности, возникающей при подгонке к экспериментальной кривой рассеяния теоретических зависимостей с разными корреляционными функциями, которые сами зависят от параметров шероховатостей; 2) возможность избежать необходимости измерять индикатрису рассеяния во всей полусфере над образцом. Данный способ определения КФ и параметров шероховатости поверхности может применяться для любого типа границ раздела при соблюдении критерия Рэлея, определяющего степень неровности поверхности отражения по отношению к длине волны падающего излучения. Поэтому объектами исследования могут быть не только поверхности с нанометровыми шероховатостями, облучаемые лазерным светом, но и, например, земные покровы при их дистанционном зондировании радиосигналами навигационных спутников. Для полированных пластин кварца получены значения параметров поверхностей, близкие к аналогичным величинам, измеренным независимо на лазерном интерференционном профилометре другими авторами.
The paper proposes a new method for determining the roughness parameters and the correlation function (CF) of supersmooth dielectric plates. The method is based on finding the expansion coefficients (CF) from the experimental light scattering indicatrix in a series according to a system of orthogonal functions, followed by the calculation of the standard deviations of the surface irregularity heights σ and the correlation period Т. Distinctive features of the method are: 1) the absence of ambiguity that arises when fitting theoretical dependences with different correlation functions, which themselves depend on the roughness parameters, to the experimental scattering curve; 2) the possibility of avoiding the need to measure the scattering indicatrix in the entire hemisphere above the sample. This method for determining the CF and surface roughness parameters can be used for any type of interface, subject to the Rayleigh criterion, which determines the degree of roughness of the reflection surface with respect to the wavelength of the incident radiation. Therefore, the objects of study can be not only surfaces with nanometer roughness irradiated by laser light, but also, for example, earth covers during their remote sensing by radio signals from navigation satellites. For polished quartz plates, the values of the surface parameters were obtained close to similar values measured independently on a laser interference profilometer by other authors.
