Библиографическое описание:Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса : научное издание / Б. А. Беляев [и др.]. - Текст : непосредственный // Известия высших учебных заведений. Физика. - 2021. - Т. 64, № 1. - С. 3-9. - ISSN 0021-3411, DOI 10.17223/00213411/64/1/3.
Аннотация:Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм<sup>2</sup> на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.
We demonstrate the possibility of determination of the structural constant S and the average size of crystallites in an anisotropic nanocrystalline magnetic film by the analysis of the shape of the sharp microwave absorption peak observed when the external magnetic field is swept along the hard magnetization axis. In the theory of magnetization ripple, the constant S is linked to the surface density of local magnetic anisotropy energy and S can be used to estimate the quality of nanocrystalline films. The performance of the new method for determination of S was demonstrated on a 300-nm-thick nanocrystalline Co-P film. The absorption spectrum was measured on a local film area of ~ 1 mm<sup>2</sup> by the scanning ferromagnetic resonance spectrometer. The calculated from the analysis of the spectrum value for S allowed us to determine an average size of crystallites in the film that agrees well with the transmission electron microscopy results.
