1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХПАРАМЕТРОВ ТОНКИХПЛЕНОК СЛОЖНЫХОКСИДОВ : патент наизобретение Сухова Галина ИвановнаПатрушева Тамара НиколаевнаЧудинов Евгений Алексеевич2006 год

ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ ПЛЕНОК СЛОЖНЫХ ОКСИДОВ : патент на изобретение

Дополнительные ссылки: eLibrary
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ТОНКИХ ПЛЕНОК СЛОЖНЫХ ОКСИДОВ : патент на изобретение / Г. И. Сухова [и др.] ; патентообладатель Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный технологический университет", патентообладатель Институт химии и химической технологии Сибирского отделения Российской академии наук. - № 2005110324/28 ; Заявл. 08.04.2005. - [Б. м. : б. и.], 2006. - Текст : непосредственный. Перевод заглавия: CELL FOR MEASUREMENT OF DIELECTRIC PARAMETERS OF THIN FILMS OF COMPLEX OXIDES
Аннотация: p num="26"Изобретение относится к области измерения диэлектрических параметров тонких пленок сложных оксидов, используемых в производстве литий-ионных аккумуляторов. Технический результат изобретения: повышение точности измерения, возможность многократного использования ячеек. Сущность: на подложку из ситала или поликора через фотошаблон способом вакуумного напыления наносят пленочный рисунок электродов из никеля, меди или алюминия в виде гребенчатых электродов. На поверхность контуров наносят пленку сложного оксида. Электроды выполняют из металла, нанесенного на подложку в виде гребенчатых контуров, направленных гребешками навстречу друг другу, вложенных один в другой и покрытых тонкой пленкой толщиной 0,3-0,9 мкм. 2 ил., 3 табл.img src="/get_item_image.asp?id=37978411&img=00000001.TIF" class="img_big"/p
p num="27"FIELD: measurement of dielectric parameters of thin films of complex oxides used in manufacture of lithium - ion cells./p p num="28"SUBSTANCE: a film pattern of electrodes of nickel, copper or aluminum in the form of comb-like electrodes is applied onto the supporting structure of glass ceramic or polycor through a mask by vacuum spraying. A film of complex oxide is applied onto the surface of the contours. The electrodes are made of metal applied on the supporting structure in the form of comb-like contours with the combs directed toward one another, inserted one in the other and coated by a thin film 0.3 - to 0.9μm thick./p p num="29"EFFECT: enhanced precision of measurement, provided multiple use of cells./p p num="30"3 ex, 3 tbl, 2 dwg/p
Год издания: 2006
Авторы: Сухова Галина Ивановна, Патрушева Тамара Николаевна, Чудинов Евгений Алексеевич, Меньшиков Виктор Васильевич, Патрушев Валерий Васильевич
Авторский коллектив: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный технологический университет"; Институт химии и химической технологии Сибирского отделения Российской академии наук
Держатель оригинала документа: Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Сибирский государственный технологический университет", Институт химии и химической технологии Сибирского отделения Российской академии наук
Количество экземпляров:
Твёрдая копия издания отсутствует в фонде библиотеки

Похожие публикации

Устройство дляизмерения параметровтонких магнитныхпленок методомферромагнитногорезонанса нарадиочастотах Беляев Борис АфанасьевичБоев Никита МихайловичБурмитских Антон Владимирович2021 год

Устройство для измерения параметров тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса… : патент на изобретение

  • Беляев Борис Афанасьевич и др.
  • 2021 год
Физические измеренияортотропии тонкихпленок оксида графена Прохоров Д. А.Зуев С. М.2025 год

Физические измерения ортотропии тонких пленок оксида графена : статья из журнала

  • Прохоров Д. А. и др.
  • 2025 год
Физические измеренияортотропии тонкихпленок оксида графена Прохоров Д. А.Зуев С. М.2026 год

Физические измерения ортотропии тонких пленок оксида графена : статья из журнала

  • Прохоров Д. А. и др.
  • 2026 год
ФЕРРОМЕТР ДЛЯИЗМЕРЕНИЯХАРАКТЕРИСТИК ТОНКИХМАГНИТНЫХ ПЛЕНОК Беляев Борис АфанасьевичКлешнина Софья АндреевнаБоев Никита Михайлович2021 год

ФЕРРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ТОНКИХ МАГНИТНЫХ ПЛЕНОК : патент на изобретение

  • Беляев Борис Афанасьевич и др.
  • 2021 год

Оптические свойства тонких диэлектрических пленок : Учебное пособие

  • Твердохлеб Петр Васильевич
  • 2019 год
ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙПРОНИЦАЕМОСТИЖИДКОСТИ Беляев Б.А.Лексиков А.А.Тюрнев В.В.1997 год

ЯЧЕЙКА ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ЖИДКОСТИ : патент на изобретение

  • Беляев Б.А. и др.
  • 1997 год
Устройство дляизмерения шумовтонких магнитныхпленок вСВЧ-диапазоне Бабицкий Александр НиколаевичБоев Никита МихайловичКлешнина Софья Андреевна2023 год

Устройство для измерения шумов тонких магнитных пленок в СВЧ-диапазоне : патент на изобретение

  • Бабицкий Александр Николаевич и др.
  • 2023 год
Петлескоп для тонкихмагнитных пленок Клешнина Софья АндреевнаПодшивалов Иван ВалерьевичБоев Никита Михайлович2025 год

Петлескоп для тонких магнитных пленок : патент на изобретение

  • Клешнина Софья Андреевна и др.
  • 2025 год

Показать ещё

Петлескоп дляисследования тонкихмагнитных пленок Беляев Борис АфанасьевичКлешнина Софья АндреевнаБоев Никита Михайлович2020 год

Петлескоп для исследования тонких магнитных пленок : патент на изобретение

  • Беляев Борис Афанасьевич и др.
  • 2020 год
Способ получениятонких магнитныхнаногранулированныхпленок Волочаев Михаил НиколаевичМягков Виктор ГригорьевичЖигалов Виктор Степанович2018 год

Способ получения тонких магнитных наногранулированных пленок : патент на изобретение

  • Волочаев Михаил Николаевич и др.
  • 2018 год
Оптические методы дляизмерения толщинтонких испаряющихсяплёнок жидкости Гатапова Е. Я.Пещенюк Ю. А.2024 год

Оптические методы для измерения толщин тонких испаряющихся плёнок жидкости : статья из журнала

  • Гатапова Е. Я. и др.
  • 2024 год
Эллипсометрия тонкихплёнок стандартного ивосстановленногооксида графена Ильин М. Е.Тойкка А. С.Воробьев М. Г.2026 год

Эллипсометрия тонких плёнок стандартного и восстановленного оксида графена : статья из журнала

  • Ильин М. Е. и др.
  • 2026 год
Получение тонкихпленок графита надиэлектрическойподложке с помощьюгетероэпитаксиальногосинтеза Сорокин И. А.Колодко Д. В.Лузанов В. А.2020 год

Получение тонких пленок графита на диэлектрической подложке с помощью гетероэпитаксиального синтеза : статья из журнала

  • Сорокин И. А. и др.
  • 2020 год
Поворотный контейнерподложки с "маской"для формированиятонких пленокразличнойконфигурации Юшков Василий ИвановичПатрин Геннадий СеменовичКобяков Александр Васильевич2023 год

Поворотный контейнер подложки с "маской" для формирования тонких пленок различной конфигурации : патент на изобретение

  • Юшков Василий Иванович и др.
  • 2023 год
Феррометр для тонкихмагнитных пленок Клешнина Софья АндреевнаПодшивалов Иван ВалерьевичБоев Никита Михайлович2023 год

Феррометр для тонких магнитных пленок : патент на изобретение

  • Клешнина Софья Андреевна и др.
  • 2023 год
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯТОНКИХ ПЛЕНОККОБАЛЬТАТА ЛИТИЯ Патрушева Т.Н.Сухова Г.И.Чудинов Е.А.2004 год

СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ТОНКИХ ПЛЕНОК КОБАЛЬТАТА ЛИТИЯ : патент на изобретение

  • Патрушева Т.Н. и др.
  • 2004 год