p num="57"Изобретение относится к способам испытаний электронных устройств различного назначения путем использования испытательных тестов (наборы испытательных воздействий и соответствующих им допустимых отклонений контролируемых параметров устройств), сформированных по результатам математического планирования эксперимента (МПЭ). Технический результат способа позволит повысить качество контроля изготавливаемых устройств. Способ включает реализацию МПЭ с совокупностью устройств и построение математических моделей, отражающих влияние входных сигналов и эксплуатационных воздействий, а также внутренних факторов (разбросов параметров комплектующих элементов), используя которые (математические модели), формируют наборы воздействий и соответствующих им допустимых отклонений выходных параметров устройств (испытательные тесты) для проверки соответствия изготавливаемых устройств заданным требованиям. 1 з.п. ф-лы, 5 ил. /p
p num="58"FIELD: information technology./p p num="59"SUBSTANCE: method involves mathematical planning of an experiment with a set of devices and constructing mathematical models reflecting the effect of input signals and operating action, as well as internal factors (component parameter spread), where said mathematical models are used to form sets of actions and the corresponding allowable deviation of input parameters of the devices (proof tests) in order to check conformity of the manufactured devices with given requirements./p p num="60"EFFECT: high quality of inspecting manufactured devices./p p num="61"2 cl, 5 dwg /p