Semiconductor minority carrier lifetime meter using noncontact microwave method "TAUMETER - 2M" : доклад, тезисы доклададоклад, тезисы доклада, статья из сборника материалов конференций
Похожие публикации
Microwave module for noncontact measurement of semiconductors : доклад, тезисы доклада
- Vladimirov V.M. и др.
- 2010 год
Microwave sensor for noncontact measurements of semiconductors : доклад, тезисы доклада
- Vladimirov V.M. и др.
- 2011 год
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВРЕМЕНИ ЖИЗНИ НЕОСНОВНЫХ НОСИТЕЛЕЙ ЗАРЯДА В ПОЛУПРОВОДНИКАХ : патент на изобретение
- Владимиров Валерий Михайлович и др.
- 2012 год
The broadband multichannel microwave beam switches with the optimized parameters : доклад, тезисы доклада
- Vladimirov V.M. и др.
- 2004 год