Высотомеры для линейных измеренийстатья из журнала
Похожие публикации
Оптико-электронные высотомеры-скоростемеры на основе полупроводниковых лазеров для БПЛА : статья из журнала
- Вильнер Валерий Григорьевич и др.
- 2015 год
Модуляционный интерференционный микроскоп как средство измерения линейных размеров наноструктур : статья из журнала
- Григорьев С. Н. и др.
- 2012 год
Виртуальные опорные значения для калибровки средств измерений топографии пространственных… : статья из журнала
- Скрипка В. Л. и др.
- 2013 год
Исследование влияния температурных деформаций на точность линейных измерений : статья из журнала
- Башевская О. С. и др.
- 2013 год