Investigation of Structure, First Order Optical Susceptibility, Non-linear Optical, Electrical Susceptibility Results and IV Characterizations of Graphene Multilayer
Библиографическое описание:Investigation of Structure, First Order Optical Susceptibility, Non-linear Optical, Electrical Susceptibility Results and IV Characterizations of Graphene Multilayer / A. Abdel Moez, M. A. Salem, A. Elmeleegi, Z. S. Elmandouh. - (Поверхность, границы раздела, тонкие пленки). - Текст : непосредственный // Физика и техника полупроводников. - 2021. - Т. 55, вып. 6. - С. 501. - ISSN 0015-3222.
Аннотация:Образец графена был синтезирован методом импульсного лазерного осаждения. Структура образца графена была исследована с использованием как просвечивающей электронной микроскопии, так и порошкового графена, дифракционной электронной микроскопии и метода рентгеновской дифракции для тонкой пленки. Первый порядок момента M[-1] и третий порядок момента M[-3] были определены оптически. Для этого образца была определена линейная оптическая восприимчивость chi{1}. Для этого образца были определены нелинейные оптические параметры, такие как нелинейная оптическая восприимчивость третьего порядка chi{3}, нелинейный коэффициент поглощения beta[c] и нелинейный показатель преломления n[2]. Были рассчитаны электрическая восприимчивость chi[e] и относительная диэлектрическая проницаемость epsilon[r]. Были определены электронные результаты, такие как плотность валентной зоны, плотность зоны проводимости и положение уровня Ферми. Характеристики IV для этого образца были изучены в случае прямого и обратного тока, а также в случае темноты и освещения.
Graphene sample was synthesized using pulsed laser deposition technique. The structure for graphene sample was investigated using both of transmission electron microscopy, for powder graphene, diffraction electron microscopy, and X-ray diffraction technique for thin film. The first order of moment M[-1] and the third order of moment M[-3] were determined optically. The linear optical susceptibility chi{1} for this sample was determined. Non-linear optical parameters such as third-order non-linear optical susceptibility chi{3}, non-linear absorption coefficient beta[c], and non-linear refractive index n[2] were determined for this sample. The electrical susceptibility chi[e] and relative permittivity epsilon[r] were calculated. The electronic results such as density of valence band, density of conduction band, and Fermi level position were determined. IV characterizations for this sample were studied in case of forward and reverse current and in case of darkness and illumination.
