Библиографическое описание:Эллипсометрия тонких плёнок стандартного и восстановленного оксида графена = Ellipsometry of standard and reduced graphene oxide thin films / М. Е. Ильин, А. С. Тойкка, М. Г. Воробьев, Н. В. Каманина. - (Оптическое материаловедение и технологии). - Текст : электронный // Оптический журнал. - 2026. - № 2. - С. 88-95. - Библиогр.: с. 94-95 (21 назв.). - Загл. с титул. экрана. - ISSN 1023-5086.
Аннотация:Предмет исследования. Плёнки стандартного и восстановленного оксида графена. Цель работы. Установление зависимости оптических и морфологических параметров плёнок от состояния (стандартного или восстановленного) оксида графена методом эллипсометрии. Метод. Измерение компонент векторов поляризации и нахождение эллипсометрических углов psi и delta. Решение уравнения эллипсометрии с определением дисперсионных зависимостей коэффициентов экстинкции k и преломления n, толщины и шероховатости исследуемых плёнок. Основные результаты. Для плёнок стандартного и восстановленного оксида графена были определены дисперсионные зависимости параметров n и k в видимом диапазоне, установлен факт снижения толщины и шероховатости плёнки оксида графена при их восстановлении. Практическая значимость. Полученные в работе результаты эллипсометрии тонких плёнок стандартного и восстановленного оксида графена позволяют использовать стандартные плёнки в качестве просветляющих покрытий благодаря относительно низкому коэффициенту преломления и восстановленные плёнки в качестве отражающих и поглощающих электрических контактов благодаря повышенному ( n = 2, 7) коэффициенту преломления и экстинкции ( k = 1, 3). В дополнение к этому, предложенный метод может быть использован для определения степени восстановления материала.
Subject of study. Standard and reduced graphene oxide films. Aim of study. Dependence estimation of optical and morphological parameters of films on the state (standard or reduced) of graphene oxide films by the ellipsometry method. Method. Measurement of polarization vectors components and finding polarization angles psi and delta, allowing to determine extinction coefficients k and refraction coefficients n, to estimate thickness and surface roughness of the investigated films. Main results. For the standard and reduced graphene oxide films, the dispersion dependences of the parameters n and k in the visible range were determined, the thickness and roughness of the films were found, and the thickness and roughness of the graphene oxide film were found to decrease upon reduction process. Practical significance. The results of ellipsometry of thin films of standard and reconstituted graphene oxide obtained in this work allow to use standard films as illuminating coatings due to relatively low refractive index, and reconstituted films as reflecting and absorbing electrical contacts due to increased ( n up to 2. 6) refractive index and extinction ( k up to 1. 3). In addition, the proposed method can be used to determine the degree of material reducing.
