Библиографическое описание:Хашковская, Т. Н. Редкие и второстепенные минералы сульфидных медно-никелевых руд Талнахского рудного узла и их влияние на показатели обогащения / Т. Н. Хашковская, А. А. Брянская, Я. М. Пелипенко. - (Геология, горные работы, обогащение). - Текст : непосредственный // Цветные металлы. - 2024. - № 10. - С. 19-26. - Библиогр.: с. 25-26 (12 назв.). - Загл. с титул. экрана. - ISSN 0372-2929.
Аннотация:Представлены результаты минералогических наблюдений в скважинах эксплуатационной разведки в процессе проведения геолого-технологического картирования руд Талнахского рудного узла, которое проводит лаборатория геолого-технологического изучения сырья по договорам с ООО "НН Технические сервисы" "ПАО ГМК "Норильский никель". Рассмотрено влияние минералов миллерит-валлериит-пиритовой рудной ассоциации на технологические показатели при проведении опытов обогащения по действующей схеме 2 ПК-ТОФ и проектной схеме 3 ПК-ТОФ Заполярного филиала ПАО ГМК "Норильский никель". В частности, приведены данные по распределению никеля с миллеритом в мелких сростках с халькопиритом в медный концентрат, переходу меди в отвальные хвосты с валлериитом, а также снижению извлечения и содержания никеля и меди в коллективном концентрате из руд с пирротин-валлериит-пиритовой минерализацией с никелистым пиритом и валлериитом. Кратко рассказано о схеме обогащения валлериит-содержащих руд 3 ПК-ТОФ, действующей на предприятии классификации сортов "медистых" руд в зависимости от содержания валлериита в серпентинизированных вмещающих породах. Приведены сведения о форме нахождения в рудах редких минералов - джерфишерита и вяльсовита. Сообщено о находке водорастворимых сульфатов никеля в прожилково-вкрапленных рудах рудника "Маяк", наличие которых в руде может искажать данные о содержании никеля в рудах. Представлен химический состав рассмотренных минералов: миллерита, валлериита, точилинита, никелистого пирита, джерфишерита, вяльсовита, ритгерсита, никельгексагидрита, дворникита. Минералогические наблюдения выполнены оптическими методами, рентгеновской дифрактометрией, рентгеноспектральным микроанализом на электронном микроскопе Tescan Vega II LMN, оснащенном энергодисперсионным детектором X-Act.
