1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск
Патентныеисследования. Анализпатентной ситуации :учебное пособие Рожнов А. Б.Турилина В. Ю.2015 год

Патентные исследования. Анализ патентной ситуации : учебное пособие

Полный текстМультимедийный ресурс
Доступ к полному тексту через электронную библиотечную систему «Лань».
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Рожнов, А. Б. Патентные исследования. Анализ патентной ситуации : учебное пособие / А. Б. Рожнов, В. Ю. Турилина. - Москва : МИСИС, 2015. - 75 с. - ISBN 978-5-87623-977-8. Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки. Рекомендовано редакционно-издательским советом университета
Аннотация: В пособии кратко описываются основные типы патентных исследований: анализ общей патентной ситуации, исследования технического уровня объекта техники, тенденций развития, патентоспособности, патентной чистоты. Показаны принципиальные отличия этих видов патентных исследований друг от друга по содержанию. Перечислены и охарактеризованы основные этапы проведения патентных исследований, включая общий порядок проведения, составление регламента поиска, поиск и отбор патентной и другой документации, систематизация и анализ отобранной документации. Более подробно описываются патентные исследования по анализу общей патентной ситуации. Рассмотрены особенности проведении патентного поиска в различных базах данных в сети интернет: в базе данных ФИПС, Espacenet, Questel. Проанализированы особенности используемых подходов, достоинства и недостатки этих баз данных, даны рекомендации по проведению поиска. Предназначено для студентов спецкурса «Разработка и коммерциализация новых материалов» и студентов старших курсов, обучающихся по любым техническим специальностям, а также инженеров, аспирантов и научных сотрудников, профессиональная деятельность которых связана с созданием новых объектов техники. Пособие подготовлено в рамках выполнения работ по Договору № 14.А12.31.0001 от 24.06.2013 г.
Год издания: 2015
Авторы: Рожнов А. Б., Турилина В. Ю.
Издательство: МИСИС, Москва
Количество страниц: 75
Количество экземпляров:
Издание имеется только в электронном виде

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Похожие публикации

Патентные исследования. Анализ патентной ситуации

  • Рожнов А. Б.
  • 2015 год

Содержание и структура патентных исследований

  • Рогова Л. И. и др.
  • 2024 год

Патентные исследования

  • Вишнякова И. В.
  • 2019 год

Обработка и интерпретация результатов геофизических исследований и неразрушающего контроля

  • Набатов В. В.
  • 2018 год

Основы научных исследований

  • Федотов А. И.
  • 2017 год

Применение инженерно-геологических и гидрогеологических методов исследований для информационного…

  • Ческидов В. В.
  • 2017 год

Поиск и анализ инновационных технических решений в области техносферной безопасности: практикум

  • Краснов А. В.
  • 2020 год
Обработка иинтерпретациярезультатовгеофизическихисследований инеразрушающегоконтроля Набатов В. В.Эртуганова Э. А.2016 год

Обработка и интерпретация результатов геофизических исследований и неразрушающего контроля

  • Набатов В. В. и др.
  • 2016 год

Показать ещё

Основы научных исследований

  • Пархоменко Н. А.
  • 2020 год
Анализ эффективностипроизводственныхпроцессов встроительстве Руденко А. А.Бирюков А. Н.Бирюков Ю. А.2019 год

Анализ эффективности производственных процессов в строительстве

  • Руденко А. А. и др.
  • 2019 год

Методы контроля и анализа веществ: рентгеновские методы анализа

  • Сальников В. Д. и др.
  • 2017 год
Методы контроля ианализа веществ :рентгеновские методыанализа Сальников В. Д.Филичкина В. А.Муравьева И. В.2017 год

Методы контроля и анализа веществ : рентгеновские методы анализа

  • Сальников В. Д. и др.
  • 2017 год

Структурный, кинематический и динамический анализ рычажных механизмов

  • Алюшин Ю. А. и др.
  • 2015 год

Методы контроля и анализа веществ : рентгенографические методы анализа

  • Сальников В. Д.
  • 2014 год

Выполнение и оформление выпускных квалификационных работ, научно-исследовательских работ и…

  • Быкова М. Б.
  • 2015 год

Использование патентной информации при изучении, анализе и разработке технологий и технических…

  • Шулятьев В. Н. и др.
  • 2017 год