Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия : учебное пособие

Бублик В. Т.; Щербачев К. Д.; Воронова М. И.

Доступ к полному тексту через .

База данных: Каталог библиотеки СФУ

Библиографическое описание: Бублик, В. Т. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия : учебное пособие / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев, М. И. Воронова. - Москва : МИСИС, 2016. - 84 с. - ISBN 978-5-87623-982-2. Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки. Рекомендовано редакционно-издательским советом университета

Аннотация: Кратко изложены теоретические основы метода рентгеновской рефлектометрии. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому по направлению подготовки магистров 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для магистров, обучающихся по направлению 22.04.01 «Материаловедение и технологии материалов» по программе «Материаловедение функциональных материалов наноэлектроники».

Год издания: 2016

Авторы: Бублик В. Т., Щербачев К. Д., Воронова М. И.

Издательство: МИСИС, Москва

Количество страниц: 84

Количество экземпляров:

Издание имеется только в электронном виде

Показать дополнительные сведения

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Подписные книги из ЭБС "Лань"

Методы коррозионных исследований и испытаний : коррозионный мониторинг оборудования в процессе…

Бардин И. В.
2015 год