1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск

Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур : учебное пособие для студентов специальности 071000 направления 651700

Полный текст
Доступ к полному тексту через электронную библиотечную систему «Лань».
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Бублик, В. Т. Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур : учебное пособие для студентов специальности 071000 направления 651700 / В. Т. Бублик, К. Д. Щербачев. - Москва : МИСИС, 2001. - 100 с. - . Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки. Рекомендовано редакционно-издательским советом института
Аннотация: Содержание предлагаемого пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», читаемому в качестве спецкурса студентам специальности 071000 «Материаловедение и новые технологии». В нем кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассматриваемой в качестве основного инструментального метода. Показана связь деформаций в сложных многослойных структурах с измеряемыми рентгенодифрактометрическими методами характеристиками: средними деформациями, усредненными по толщине гетероструктуры, профилями деформации, кривизной. Пособие по этой тематике издается впервые. Необходимость издания определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует.
Год издания: 2001
Авторы: Бублик В. Т., Щербачев К. Д.
Издательство: МИСИС, Москва
Количество страниц: 100
Количество экземпляров:
Издание имеется только в электронном виде

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Похожие публикации

Дифракционные методыизучения материалов иприборных структур.Рентгеновскаярефлектометрия Бублик В. Т.Щербачев К. Д.Воронова М. И.2016 год

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия

  • Бублик В. Т. и др.
  • 2016 год

Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия

  • Бублик В. Т. и др.
  • 2006 год

Методы и средства аналитического контроля материалов : химические и физико-химические методы…

  • Филичкина В. А. и др.
  • 2015 год

Материаловедение. Методы анализа структуры и свойств металлов и сплавов

  • Орелкина Т. А. и др.
  • 2018 год

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация

  • Бублик В. Т.
  • 2013 год

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур

  • Бублик В. Т.
  • 2016 год

Методы контроля и анализа веществ: рентгеновские методы анализа

  • Сальников В. Д. и др.
  • 2017 год
Методы контроля ианализа веществ :рентгеновские методыанализа Сальников В. Д.Филичкина В. А.Муравьева И. В.2017 год

Методы контроля и анализа веществ : рентгеновские методы анализа

  • Сальников В. Д. и др.
  • 2017 год

Показать ещё

Методы контроля и анализа веществ : рентгенографические методы анализа

  • Сальников В. Д.
  • 2014 год
Дисперсные системы.Примеры решения задач Семенов Ю. В.Поливанская В. В.2019 год

Дисперсные системы. Примеры решения задач

  • Семенов Ю. В. и др.
  • 2019 год

Методы и средства аналитического контроля материалов : химические и физико-химические методы…

  • Филичкина В. А. и др.
  • 2015 год

Тугоплавкие металлы IV–VI групп и их соединения. Структура, свойства, методы получения

  • Панов В. С.
  • 2006 год

Материалы и элементы электронной техники : Расчет режимов термического окисления и диффузии при…

  • Полисан А. А. и др.
  • 2007 год

Перспективные коррозионно-стойкие материалы и технологии защиты металлов от коррозии

  • Пустов Ю. А.
  • 2010 год

Покрытия и поверхностное модифицирование материалов

  • Блинков И. В. и др.
  • 2018 год

Методы пробоотбора и пробоподготовки

  • Карпов Ю. А. и др.
  • 2001 год