1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск

Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций

Полный текст
Доступ к полному тексту через электронную библиотечную систему «Лань».
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Бублик, В. Т. Методы исследования материалов и структур в электронике. Рентгеновская дифракционная микроскопия : курс лекций / В. Т. Бублик, А. М. Мильвидский. - Москва : МИСИС, 2006. - 93 с. - . Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки. Рекомендовано редакционно-издательским советом института
Аннотация: В курсе лекций изложены основы динамической теории, геометрические аспекты формирования изображений и основные положения дифракционной теории формирования контраста на дефектах в разных схемах дифракции: схема отражения по Брэггу и Лауэ. Приведен качественный анализ характера контраста на дефектах различного типа. Для более полного усвоения материала приводится большой объем иллюстраций. Необходимо особо отменить, что подобного курса лекций, отвечающего современному уровню и объему данного раздела, в числе читаемых для указанных специальностей в настоящее время не имеется. Предназначено для студентов 4 и 5 курсов специальностей 071000, 200100 и направлений 5516, 5507, 5531, а также аспирантов специализирующихся в области физики и технологии роста кристаллов по специальностям: 01.24.10, 05.27.06 и 05.27.01.
Год издания: 2006
Авторы: Бублик В. Т., Мильвидский А. М.
Издательство: МИСИС, Москва
Количество страниц: 93
Количество экземпляров:
Издание имеется только в электронном виде

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Похожие публикации

Дифракционные методыизучения материалов иприборных структур.Рентгеновскаярефлектометрия Бублик В. Т.Щербачев К. Д.Воронова М. И.2016 год

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия

  • Бублик В. Т. и др.
  • 2016 год

Методы коррозионных исследований и испытаний : коррозионный мониторинг оборудования в процессе…

  • Бардин И. В.
  • 2015 год

Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур

  • Бублик В. Т. и др.
  • 2001 год

Коррозионностойкие и жаростойкие материалы :методы коррозионных исследований и испытаний

  • Пустов Ю. А. и др.
  • 2013 год

Материаловедение. Методы анализа структуры и свойств металлов и сплавов

  • Орелкина Т. А. и др.
  • 2018 год

Электрические методы исследования разрывов энергетических зон в полупроводниковых микро- и…

  • Литвинов В. Г. и др.
  • 2013 год

Методы и средства аналитического контроля материалов : химические и физико-химические методы…

  • Филичкина В. А. и др.
  • 2015 год

Материалы и элементы электронной техники : Расчет режимов термического окисления и диффузии при…

  • Полисан А. А. и др.
  • 2007 год

Показать ещё

Электрические методы исследования разрывов энергетических зон в полупроводниковых микро- и нано-…

  • Литвинов В. Г. и др.
  • 2009 год

Материалы и элементы электронной техники

  • Крутогин Д. Г.
  • 2006 год

Сертификация магнитных материалов

  • Перминов А. С. и др.
  • 2006 год

Перспективные коррозионно-стойкие материалы и технологии защиты металлов от коррозии

  • Пустов Ю. А.
  • 2010 год

Методы и средства аналитического контроля материалов : химические и физико-химические методы…

  • Филичкина В. А. и др.
  • 2015 год

Методы контроля и анализа веществ: рентгеновские методы анализа

  • Сальников В. Д. и др.
  • 2017 год
Методы контроля ианализа веществ :рентгеновские методыанализа Сальников В. Д.Филичкина В. А.Муравьева И. В.2017 год

Методы контроля и анализа веществ : рентгеновские методы анализа

  • Сальников В. Д. и др.
  • 2017 год

Научные и технологические принципы нанесения покрытий методами физического и химического осаждения

  • Кирюханцев-Корнеев Ф. В.
  • 2015 год