Физические процессы в полупроводниках при облучении быстрыми частицами. Теория и расчет : учебно-методическое пособие

Ладыгин Е. А.; Лагов П. Б.; Мурашев В. Н.

Доступ к полному тексту через .

База данных: Каталог библиотеки СФУ

Библиографическое описание: Ладыгин, Е. А. Физические процессы в полупроводниках при облучении быстрыми частицами. Теория и расчет : учебно-методическое пособие / Е. А. Ладыгин, П. Б. Лагов, В. Н. Мурашев. - Москва : МИСИС, 2001. - 47 с. - . Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки

Аннотация: В пособии кратко изложены современные теоретические представления об образовании первичных дефектов в объеме полупроводника, приведены формулы для расчета основных электрофизических параметров монокристаллических полупроводников при воздействии быстрых частиц и гамма-квантов в широком диапазоне энергий. Цель пособия заключается в приобретении практических навыков выполнения расчета полного числа неравновесных смещений атомов в единице объема полупроводникового монокристалла при облучении различными видами частиц и гамма-квантов надпороговых энергий. Приведены точные значения фундаментальных физических констант, необходимых для расчетов, а также наглядные графические зависимости рассчитываемых параметров от условий облучения для кремния, которые полезно использовать для самопроверки результатов расчета. Пособие предназначено для студентов специальности 200100 «Микроэлектроника и твердотельная электроника», выполняющих курсовые работы по дисциплине «Основы лучевой технологии микроэлектроники», а также пособие будет полезно студентам, аспирантам и специалистам, выполняющим дипломные и научно-исследовательские работы в области радиационной физики, материаловедения, технологии полупроводниковых приборов и интегральных схем

Год издания: 2001

Авторы: Ладыгин Е. А., Лагов П. Б., Мурашев В. Н.

Издательство: МИСИС, Москва

Количество страниц: 47

Количество экземпляров:

Издание имеется только в электронном виде

Показать дополнительные сведения

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Подписные книги из ЭБС "Лань"

Материалы и элементы электронной техники : Расчет режимов термического окисления и диффузии при…

Полисан А. А. и др.
2007 год

Обеспечение надежности электронных компонентов космических аппаратов

Ладыгин Е. А.
2003 год

Компьютерное моделирование нанотехнологий, наноматериалов и наноструктур

Юрчук С. Ю.
2013 год

Строительная механика: Расчет перемещений в статически определимых рамах при тепловом воздействии

Кондратенко В. Е. и др.
2016 год

Строительная механика. Расчет статически определимых и неопределимых рам при кинематическом…

Кондратенко В. Е. и др.
2018 год

Строительная механика : Расчет перемещений в статически определимых рамах при тепловом воздействии

Кондратенко В. Е. и др.
2016 год

Строительная механика. Расчет статически неопределимых рам при тепловом воздействии

Кондратенко В. Е. и др.
2016 год

Теория и расчет полупроводниковых приборов и интегральных схем

Кольцов Г. И. и др.
2001 год

Твердотельная электроника

Ковалев А. Н.
2010 год

Радиационные эффекты в кремниевых интегральных схемах космического применения

Таперо К. И.
2011 год

Основы радиационной стойкости изделий электронной техники

Таперо К. И. и др.
2013 год

СВЧ-приборы и интегральные микросхемы: Расчет параметров селективно легированного гетеротранзистор

Кольцов Г. И.
2001 год

Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни…

Маняхин Ф. И.
2002 год

Расчёт параметров буровзрывниых работ при транспортной и бестранспортной системах разработки

Скурихин Ю. Г.
2016 год

Проектирование и конструирование полупроводниковых приборов ИС и БИС

Ладыгин Е. А. и др.
2000 год

Безопасность технологических процессов при транспорте нефти и газа

Щипанов А. В.
2018 год

Библиотечно-издательский комплекс СФУ