1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск

Определение параметров гетероструктур, используемых в оптоэлектронике : лабораторный практикум

Полный текст
Доступ к полному тексту через электронную библиотечную систему «Лань».
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Кузнецов, Г. Д. Определение параметров гетероструктур, используемых в оптоэлектронике : лабораторный практикум / Г. Д. Кузнецов, В. П. Сушков, А. Е. Ованесов. - Москва : МИСИС, 2002. - 40 с. - . Книга из коллекции МИСИС - Инженерно-технические науки
Аннотация: Практикум состоит из пяти лабораторных работ, выполнение которых позволит получить достаточно полное представление о свойствах гетероструктур, используемых в оптоэлектронике. В каждом описании к лабораторной работе дается краткое рассмотрение теории и технологии изготовления гетероструктур, что закрепляет знания студентов, полученные в лекционных курсах. Настоящий лабораторный практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 550700 для изучения курсов «Основы высоких технологий», «Физико-химические основы многослойных гетероструктур», «Конструирование компонентов и элементов микроэлектроники»
Год издания: 2002
Авторы: Кузнецов Г. Д., Сушков В. П., Ованесов А. Е.
Издательство: МИСИС, Москва
Количество страниц: 40
Количество экземпляров:
Издание имеется только в электронном виде

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Похожие публикации

Расчеты параметров взаимодействия ускоренных ионов с твердым телом

  • Кузнецов Г. Д.
  • 2005 год

Вакуумная и плазменная электроника

  • Кузнецов Г. Д. и др.
  • 2005 год

Элементы и устройства магнитоэлектроники

  • Крутогин Д. Г.
  • 2015 год

Определение параметров полупроводника по температурным зависимостям ЭДС Холла, времени жизни…

  • Маняхин Ф. И.
  • 2002 год

Полупроводниковые оптоэлектронные приборы

  • Юрчук С. Ю. и др.
  • 2004 год

Конструирование компонентов и элементов микроэлектроники: Оптоэлектронные преобразователи излучений

  • Кузнецов Г. Д. и др.
  • 2001 год

Физические процессы в полупроводниках при облучении быстрыми частицами. Теория и расчет

  • Ладыгин Е. А. и др.
  • 2001 год

Методология и практика определения размерных характеристик материалов

  • Дзидзигури Э. Л. и др.
  • 2018 год

Показать ещё