1. Главная
  2. Ресурсы
  3. Библиотечный поиск

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация

Полный текст на внешнем сайте
Доступ к полному тексту через электронную библиотечную систему «Лань».
База данных: Каталог библиотеки СФУ
Библиографическое описание: Бублик, В. Т. Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация / В. Т. Бублик. - Москва : МИСИС, 2013. - ISBN 978-5-87623-695-1. Рекомендовано редакционно-издательским советом университета
Аннотация: В пособии кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассмотренной в качестве основного инструментального метода. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», предназначенному для подготовки магистров и бакалавров по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», а также по направлению подготовки аспирантов 01.04.10 «Физика полупроводников». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», по специальности 150601 «Материаловедение и технология новых материалов».
Год издания: 2013
Авторы: Бублик В. Т.
Издательство: МИСИС, Москва
Количество экземпляров:
Издание имеется только в электронном виде

Цифровые и тематические книжные коллекции издания

Похожие публикации

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур

  • Бублик В. Т.
  • 2016 год
Дифракционные методыизучения материалов иприборных структур.Рентгеновскаярефлектометрия Бублик В. Т.Щербачев К. Д.Воронова М. И.2016 год

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Рентгеновская рефлектометрия

  • Бублик В. Т. и др.
  • 2016 год

Расшифровка кристаллической структуры материала по дифракционному спектру методом Ритвельда

  • Исаенкова М. Г. и др.
  • 2019 год

Методы структурных исследований материалов. Методы микроскопии

  • Вознесенский Э. Ф. и др.
  • 2014 год

Дифракционные методы изучения поверхностных слоев и приборных структур

  • Бублик В. Т. и др.
  • 2001 год

Физико-химические методы исследования материалов. Состав, структура

  • Сенин А. В. и др.
  • 2018 год

Избранные главы кристаллохимии и методы изучения наноструктурированных материалов

  • Лыгина Т. З. и др.
  • 2018 год

Спектроскопические методы анализа. Сорбционно-спектроскопические методы анализа

  • Лосев Владимир Николаевич
  • 2012 год

Показать ещё