Библиографическое описание:Two-layer Model of Reflective Ferromagnetic Films in Terms of Magneto-optical Ellipsometry Studies = Двухслойная модель отражающих ферромагнитных пленок для исследования тонких пленок методом магнитоэллипсометрии / O. A. Maximova [et al.]. - Текст : непосредственный // Журнал Сибирского федерального университета. Математика и физика. - 2017. - Т. 10, № 2. - С. 223-232. - Библиогр.: с. 231-232. - ISSN 1997-1397.
Аннотация:Представлен метод анализа магнито-эллипсометрических измерений. Детально рассматривается двуслойная модель ферромагнитных отражающих пленок. Полученный алгоритм может использоваться для контроля оптических и магнито-оптических свойств пленок в процессе их роста в вакуумных камерах.
