Библиографическое описание:Eikhler, Alexey. Hysteresis Effects in the Critical Behavior of Heisenberg Thin Films in an External Oscillating Field = Эффекты гистерезиса в критическом поведении тонких гейзенберговских пленок во внешнем осциллирующем поле / A. V. Eikhler, V. V. Prudnikov, P. V. Prudnikov. - Текст : непосредственный // Журнал Сибирского федерального университета. Математика и физика. - 2024. - Т. 17, № 2. - С. 189-194. - Библиогр.: с. 193-194. - ISSN 1997-1397.
Аннотация:В данной работе методами Монте-Карло моделировались эффекты гистерезиса в тонких пленках Гейзенберга во внешнем осциллирующем поле.