- Главная
- Ресурсы
- Библиотечный поиск
- Журнал «Заводская лаборатория. Диагностика материалов»
- Выпуск 2017 г. Том 83. № 4
Влияние электропитания магнетронной распылительной системы на свойства осаждаемых пленок TiO[2]статья из журнала
База данных: Каталог библиотеки СФУ (В 586)
Библиографическое описание: Влияние электропитания магнетронной распылительной системы на свойства осаждаемых пленок TiO[2] / Н. Ф. Абрамов [и др.]. - (Исследование структуры и свойств) (Физические методы исследования и контроля). - Текст : непосредственный // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2017. - Т. 83, № 4. - С. 31-37. - Библиогр.: с. 36-37 (13 назв. ). - ISSN 1028-6861.
Аннотация: Рассмотрены преимущества получения прецизионных оптических покрытий методом магнетронного распыления с электропитанием газового разряда в среднечастотном диапазоне изменения токов. Обоснована важность выбора оптимальных характеристик и режимов работы источников электропитания магнетронной распылительной системы для получения оптических покрытий высокого качества. На разработанной технологической установке магнетронного распыления, включающей многорежимную систему электропитания магнетронной распылительной системы, получены образцы с тонкими пленками TiO[2] при различных частотах повторения импульсов тока, подаваемых на магнетронную распылительную систему, и идентичных других условиях напыления. Образцы были исследованы методами лазерной эллипсометрии, атомно-силовой микроскопии, рентгеновской дифракции и рентгеновской рефлектометрии.
Год издания: 2017
Авторы: Абрамов Н. Ф. , Безруков А. В. , Вольпян О. Д. , Обод Ю. А.
Выпуск: Т. 83, № 4
Номера страниц: 31-37
Количество экземпляров:
- Читальный зал (пер. Вузовский, 6Д): свободно 1 из 1 экземпляров
Ключевые слова: магнетронные распылительные системы, магнетронное распыление, оптические покрытия, нанокомпозитные покрытия, источники питания, эллипсометрия, атомно-силовая микроскопия, рентгеновская дифрактометрия, рентгеновская рефлектометрия, магнетронное напыление
Рубрики: Физика,
Физика твердого тела. Кристаллография в целом,
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
Физика твердого тела. Кристаллография в целом,
Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях
ISSN: 1028-6861
Идентификаторы: полочный индекс В 586, шифр zala/2017/83/4-293808843